Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 4 : Design of system-on-chip (SoC) and IP-blocks. Digital signal processing. Unconventional cpmputing systems, 2015. - 46 с. - Текст : непосредственный.
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. трудов на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 3, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 вып.] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук. Вып. 3 : Высокопроизводительные вычислительные микроэлектронные системы. Проектирование электронной компонентной базы. Решение сетевых и алгоритмических задач. Физические явления в материалах микроэлектроники и их использование для разработки новой элементной базы, 2018. - 203 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 вып.] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук. Вып. 2 : Верификация и тестирование. Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС, 2018. - 187 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 4, 2017. - VI,67 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 1, 2017. - VII,71 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 2, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный.Проблемы современной аналоговой микросхемотехники : VI Междунар. науч.-практ. семинар, Шахты, 3-5 окт. 2007 г., сб. материалов / Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва). Ч. 2 : Разработка и применение аналоговой и дискретно-аналоговой микроэлектронной техники, 2007. - 68 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Евсиков И.А. Применение спектральных методов линейной декомпозиции для синтеза на современной элементной базе : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. А. Евсиков, 1998. - 16 с. - Текст : непосредственный.Solid State Electronics. - Журнал. - Текст : непосредственный.Петухов Г.А. Автоматизация топологического проектирования БИС на базовых кристаллах / Г. А. Петухов, С. А. Арустамов, 1989. - 24 с. - Текст : непосредственный.Лемешко Н.В. Основы проектирования интегральных микросхем : учебное пособие / Н. В. Лемешко, 2010. - 270 с. - Текст : непосредственный.Стемпковский А.Л. Системная среда САПР СБИС / А. Л. Стемпковский, В. А. Шепелев, А. В. Власов, 1994. - 251 c. - Текст : непосредственный.Руденко А.Г. Математические модели и методы решения задачи расчета сечений шин питания БИС/СБИС / А. Г. Руденко, 1991. - 43 с. - Текст : непосредственный.Design methodologies for VLSI and computer architecture : сборник / Ed. D. A. Edwards, 1989. - XIII,348 p. p. - Текст : непосредственный.Journal Microelectronic Systems Integration. - Журнал выходит с 1993г. - Текст : непосредственный. Шишкин В.М. Прогнозирование и оптимизация серийноспособности схем в интегрированной САПР микроэлектронных устройств : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук / В. М. Шишкин, 1995. - 33 с. - Текст : непосредственный.Казеннов Г.Г. Основы проектирования интегральных схем и систем / Г. Г. Казеннов, 2005. - 295 с. - Текст : непосредственный.Наноинженерия : библиотека: учеб.-метод. комплекс по темат. направлению деятельности ННС "Наноинженерия": в 17-ти кн. / под ред. В. А. Шахнова. 13 : Автоматизированное проектирование наносистем / А. И. Власов [и др.], 2011. - 183 с. - Текст : непосредственный.Семенова О.В. Прецизионная обработка поверхности подложек микроэлектроники порошками ультрадисперсного алмаза : специальность 05.03.01 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / О. В. Семенова, 2000. - 23 с. - Текст : непосредственный.Романова М.П. Конструирование полупроводниковых микросхем : выставочные материалы / М. П. Романова, 2012. - 87 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем-2005 : материалы временных коллективов / Ред. А. Л. Стемпковский, 2005. - 537 с. - Текст : непосредственный.Торгонский Л.А. Проектирование интегральных микросхем и микропроцессоров : учеб. пособие. Разд. 1, 2008. - 254 с. - Текст : непосредственный.Kemper A. Entwurf von Semicustom-Schaltungen / A. Kemper, M. Meyer, 1989. - 10,250 S. S. - Текст : непосредственный.Казеннов Г.Г. Проектирование топологии матричных БИС / Г. Г. Казеннов, Е. В. Сердобинцев, 1990. - 112 с. - Текст : непосредственный.Казеннов Г.Г. Принципы и методология построения САПР БИС / Г. Г. Казеннов, А. Г. Соколов, 1990. - 142 с. - Текст : непосредственный.Жаркой М.Ф. Основы конструирования и технологии производства изделий микроэлектронной аппаратуры : учеб. пособие. Ч. 1, 2008. - 64с. - Текст : непосредственный.Pogatzki P. Lernfahiges Entwurfssystem fur planare Hochfrequenzschaltungen / P. Pogatzki, 1989. - 146 S. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыProblems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 4 : Design of system-on-chip (SoC) and IP-blocks. Digital signal processing. Unconventional cpmputing systems, 2015. - 46 с. - Текст : непосредственный.
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. трудов на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 3, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 вып.] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук. Вып. 3 : Высокопроизводительные вычислительные микроэлектронные системы. Проектирование электронной компонентной базы. Решение сетевых и алгоритмических задач. Физические явления в материалах микроэлектроники и их использование для разработки новой элементной базы, 2018. - 203 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2018 (МЭС-2018) : VIII Всероссийская научно-техническая конференция, 1-5 октября 2018 года : сборник трудов : [в 4 вып.] / Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук. Вып. 2 : Верификация и тестирование. Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и подсистем СБИС, 2018. - 187 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 4, 2017. - VI,67 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 1, 2017. - VII,71 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 2, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016 (МЭС-2016) : VII Всерос. науч.-техн. конф., 3-7 окт. 2016 г., Москва : сб. тр. / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 2 : Верификация и тестирование. Высокопроизводительные вычислительные микроэлектронные системы, 2016. - 281 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
Заказ фрагмента документа ₽