• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Symposium on diagnostic techniques for semiconductor materials and devices (1988 ; New York). Proceedings of the symposium on diagnostic techniques for semiconductor materials and devices, New York, 1988 / Symposium on diagnostic techniques for semiconductor materials and devices (1988 ; New York) ; Ed.: T. J. Shaffner, D. K. Schroder. - Pennington(NJ) : [s. n.], 1988. - VI,289 p. p. : ill. - (Proceedings / Electrochem. soc. ; n88-20). - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце ст.Указ.:с.279-289

    ГРНТИ УДК
    47.09.29621.315.592(063)
    47.33621.382.001.4(063)

    Рубрики:
    Полупроводники -- Методы исследования -- Съезды и конференции
    Полупроводниковые приборы -- Техническая диагностика -- Съезды и конференции

    Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИК -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР
    Доп. точки доступа:
    Shaffner, T.J.\ed.\
    Schroder, D.K.\ed.\

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Q/4195/88-20)

    Шифр в сводном ЭК: 5b2a00fb86480db1da6da2015007930d



    Заказ фрагмента документа ₽