• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Игонина, Т. И. Технологическое обеспечение качества поверхности полупроводниковых пластин информационно-измерительных устройств / Т. И. Игонина. - 2007. - 22 с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    47.13.11621.382.002(043)

    Кл.слова (ненормированные): Строительство и архитектура. Серия - Строительство объектов
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар07-11494)

    Шифр в сводном ЭК: 9a832f24dd331753814d8b2ab196b08f



    Заказ фрагмента документа ₽