Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный.Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный.Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный.Баринов С.В. Разработка и исследование комплекса генетических алгоритмов разбиения схем с учетом временных задержек / С. В. Баринов, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный.Усикова М.А. Методы сверхлокального и селективного препарирования кремниевых интегральных схем / М. А. Усикова, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный.Венцов Н.Н. Исследование и разработка генетических алгоритмов и автоматов адаптации для повышения эффективности доступа к данным САПР СБИС : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)", 05.13.17 "Теоретические основы информатики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. Н. Венцов, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Никифоров А.Ю. Радиационные эффекты в КМОП ИС / А. Ю. Никифоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков, 1994. - 164 c. - Текст : непосредственный.Чураев С.О. Встраиваемые системы контроля параметров интегральных схем пикосекундного разрешения / С. О. Чураев, 2012. - 19 с. - Текст : непосредственный.Special issue on high-speed circuits : материалы временных коллективов / Ed.: M. Mokhtari, M. G. Stubbs. - 1095-1210 p. p. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) , 1995. - 529-649 p. p. - Текст : непосредственный.Курейчик В.М. Контролепригодное проектирование и самотестирование СБИС: проблемы и перспективы / В. М. Курейчик, С. И. Родзин, 1994. - 174 c. - Текст : непосредственный.Микросхемы интегральные серии КР580.. К744 / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург), 1993. - 224 c. - Текст : непосредственный.Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, Ю. К. Фортинский, К. И. Таперо, 2007. - 121 с. - Текст : непосредственный.Овечкин Р.М. Новые технологичные СВЧ устройства для перестраиваемых мощных плотноупакованных СВЧ схем и настроечные корпуса для них : специальность 05.12.07 "Антенны, СВЧ устройства и их технологии" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Р. М. Овечкин, 2004. - 16 c. - Текст : непосредственный.Packaging handbook, 1991. - Pag.var. мкф. - Текст : непосредственный.Фадеев А.В. Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии / А. В. Фадеев, 2014. - 22 с. - Текст : непосредственный.Сибагатуллин А.Г. Повышение помехоустойчивости аналого-цифровых систем на кристалле средствами адаптивной коррекции сложных функциональных блоков / А. Г. Сибагатуллин, 2010. - 27 с. - Текст : непосредственный.Красников Г.Я. Система кремний - диоксид кремния субмикронных СБИС / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев, 2003. - 383 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСтроев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Захаров А.Г. Диагностика глубоких энергетических уровней в полупроводниковых структурах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.01 / А. Г. Захаров, 1990. - 33 с. - Текст : непосредственный.Бухалов Л.Л. Физико-химические процессы при формировании активных структур на поверхности арсенида галлия и их оптический контроль при создании интегральных схем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук: 02.00.04 / Л. Л. Бухалов, 1993. - 19 с. - Текст : непосредственный.Остроухов С.С. Повышение качества и надежности серийного производства МДП ИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.27.01 / С. С. Остроухов, 2001. - 16 с. - Текст : непосредственный.Королев А.А. Методы и средства повышения эффективности контроля качества микросхем в процессе производства : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.13 / А.А. Королев, 2005. - 18 с. - Текст : непосредственный.Баранов В.В. Конструктивно-технологические методы обеспечения качества силицид- и оксидсодержащих блоков токопроводящих систем изделий полупроводниковой электроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.01 / В. В. Баранов, 1990. - 51 с. - Текст : непосредственный.Чернышов А.А. Разработка интегральных сорбционных преобразователей влажности и температуры для контроля атмосферы в корпусах интегральных микросхем и методик определения тепловых сопротивлений корпусов и содержания влаги в их объеме : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / А. А. Чернышов, 1991. - 27 с. - Текст : непосредственный.Бордюжа О.Л. Диагностический контроль качества и надежности кремниевых биполярных интегральных схем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / О. Л. Бордюжа, 1999. - 17 с. - Текст : непосредственный.Столяренко Ю.А. Контроль кристаллов интегральных схем на основе статистического моделирования методом точечных распределений : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Ю. А. Столяренко, 2006. - 17 с. - Текст : непосредственный.Чистякова С.В. Разработка методов аттестации конструкции ИС по надежностным критериям : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / С. В. Чистякова, 1994. - 19 с. - Текст : непосредственный.Аникин А.В. Технологическое обеспечение показателей качества пластин-подложек ИМС на основе совершенствования доводочных операций : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.14 / А. В. Аникин, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Шишкина Н.А. Методы контроля содержания паров воды в подкорпусном объеме интегральных схем : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Н. А. Шишкина, 2007. - 15 с. - Текст : непосредственный.Преженцев М.Д. Разработка и внедрение в условиях массового производства методики отбраковки потенциально-ненадежных полупроводниковых приборов и интегральных схем, основанной на использовании коронного разряда : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / М. Д. Преженцев, 1995. - 13 с. - Текст : непосредственный.Барсов В.С. Оптимизация методов контроля основных параметров комплементарных МОП интегральных схем в процессе производства : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.11.13 / В. С. Барсов, 2001. - 19 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽