• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Weidner, J. -O. Charakterisierung der Zuverlassigkeit von sub-мm AlSiCu/TiN/Ti/n-Si- Kontakten bei hochbeschleunigten Lebensdauertests : Diss. / J.-O.Weidner. - Hannover, 1999. - 102 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:с.97-102

    ГРНТИ УДК
    47.13.11621.315.592.9(043)
    621.382.002:621.793(043)

    Рубрики:
    Контакт металл-полупроводник
    Полупроводниковые приборы -- Металлизация

    Кл.слова (ненормированные): КОНТАКТ МЕТАЛЛ-ПОЛУПРОВОДНИК -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/21031)

    Шифр в сводном ЭК: 5e1cce02d8aced07a65bb4c0497485b1



    Заказ фрагмента документа ₽