• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Новиков, А. С. Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.13.15 / А. С. Новиков. - Владивосток, 2002. - 18 с. - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Дальневост. гос. техн. ун-т. Библиогр.: с. 18(8 назв.)

    ГРНТИ УДК
    50.11004.332.3.052.32(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар03-12286)

    Шифр в сводном ЭК: 8c64e452f45dfb06f0c1e26a029b1a4c



    Заказ фрагмента документа ₽