• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Горлов, М. И. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий / М. И. Горлов, В. А. Сергеев ; Ульян. гос. техн. ун-т. - Ульяновск : УлГТУ, 2014. - 406 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    47.13.81621.382-044.3
    47.33621.382:658.562
    621.382.019.3

    Рубрики:
    Полупроводниковые приборы -- Техническая диагностика
    Полупроводниковые приборы -- Технический контроль
    Полупроводниковые приборы -- Надежность

    Доп. точки доступа:
    Сергеев, В.А.
    Ульяновский гос. технический ун-т

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-14/25317)

    Шифр в сводном ЭК: 350e098da2e5f6bbca748a9c405f5470



    Заказ фрагмента документа ₽