Полное описание
Uhde, H. -M.
ГРНТИ УДК 59.14.23 681.723(043)
Рубрики: Микроскопы
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/18274)
Шифр в сводном ЭК: 15b829928f5493e5ffc07164ccb8dbe4
Егорова О.В. Методы оценки технологичности и контроля качества оптических систем нового поколения объективов микроскопа : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн.наук / О. В. Егорова, 1995. - 18 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Гусаров В.Ф. Исследование и разработка оптико-электронной системы контроля пространственного положения на базе полихроматической оптической равносигнальной зоны при цифровой обработке информации / В. Ф. Гусаров, 2017. - 18 с. - Текст : непосредственный. Сиротский А.А. Проектирование позиционных лазерных измерительных систем / А. А. Сиротский, 2013. - 144 с. - Текст : непосредственный. Суранов А.Я. Разработка и исследование устройств фотометрирования на базе многоэлементных фотоприемников для систем контроля параметров изделий и технологических процессов с помощью методов дифрактометрии и спектрометрии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / А. Я. Суранов, 1997. - 23 с. - Текст : непосредственный. Uhde H.-M. Chromatische Hohenbestimmung mit dem konfokalen Mikroskop : Diss. / H.-M.Uhde, 1992. - 154 S. - Текст : непосредственный. Богатинский Е.М. Исследование и разработка оптико-электронных систем с планарной оптической равносигнальной зоной для контроля и управления пространственным положением объектов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.07 / Е. М. Богатинский, 2010. - 16 с. - Текст : непосредственный. Тарасов В.В. Лазерные сканирующие системы контроля геометрических параметров изделий массового производства : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.11.07 / В. В. Тарасов, 1998. - 45 с. - Текст : непосредственный. Лазеры в измерительной технике : Отеч.и иностр.лит.за 1989-1991 гг. / Сост.И. В.Беляева, 1992. - 332 с. - Текст : непосредственный. Быков В.А. Нанодиагностика и зондовая микроскопия в исследованиях новых материалов / В. А. Быков. - Текст : непосредственный // Нанотехнологии и наноматериалы : материалы III междунар. науч.-техн. конф. - М. : Изд-во МГОУ, 2012. - с. 11-16. Левченко Т.В. Рефлектометр для экспресс-контроля шероховатости поверхностей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / Т. В. Левченко, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Мещеряков Ю.Ю. Использование глубоких нейронных сетей на ПЛИС в приборе ночного видения для колоризации изображения / Ю. Ю. Мещеряков. - Текст : непосредственный // Студент и наука : научный журнал / Воронежский государственный технический университет. - Воронеж : ВГТУ, 2021. - N 4. - с. 29-33 Давыдов, Владимир Борисович. Разработка и проектирование лазерных измерительных приборов и систем : учебно-методическое пособие / В. Б. Давыдов, Е. М. Иващенко, Р. А. Ларичев, 2023. - 50 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Goddenhenrich T. Abbildung und Charakterisierung mikromagnetischer Oberflachenstreufelder mit einem neu entwickelten Magnetokraft-Mikroskop / T. Goddenhenrich, 1991. - 145 S. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Сороко Л.М. Новые оптические микроскопы / Л. М. Сороко, 2006. - 88 с. - Текст : непосредственный. Зуев В.С. Опыты по концентрации оптического излучения в размерах, существенно меньших длины волны / В.С.Зуев,А.В.Францессон, 1997. - 10 с. - Текст : непосредственный. Циммерман А. Микроскоп : рук. для науч. микроскопии / А. Циммерман; пер. с нем. А. Р. Ильиша, 1896. - IV,338 с. - Текст : непосредственный. Uhde H.-M. Chromatische Hohenbestimmung mit dem konfokalen Mikroskop : Diss. / H.-M.Uhde, 1992. - 154 S. - Текст : непосредственный. Горизонтальный нейтронный микроскоп / С.С.Арзуманов,И.А.Карасева,Ю.В.Кудряшов и др., 1989. - 16 c. - Текст : непосредственный. Кульчицкий Н.К. Учение о микроскопе и техника микроскопического исследования / Н. К. Кульчицкий, 1909. - VIII, 270 с. - Текст : непосредственный. Егорова О.В. Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей. С микроскопом на "ты" / О. В. Егорова, 2007. - 357 с. - Текст : непосредственный. Kirkpatrik-Baez microscope based on brag-fresnel x-ray multilayer lenses / P.Dhez,A.Erko,E.Khzmalian и др.;П. Дез, А. Ерко, Э. Хзмалян и др., 1992. - 14 p. - Текст : непосредственный. Никитенко А.А. Imaging of monomolekular films on solid substrates by brewster anlage microscopy / А.А.Никитенко,В.В.Савранский, 1992. - 17 p. - Текст : непосредственный. Зуев В.С. Главная волна в биконическом рупоре при конечной проводимости материала стенок / В.С.Зуев,А.В.Францессон, 1996. - 14 с. - Текст : непосредственный. Егорова О.В. С микроскопом на "ты" / О.В.Егорова, 2000. - 326 с. Егорова О.В. С микроскопом на "ты" / О.В.Егорова, 2000. - 326 с. - Текст : непосредственный. Общие правила обращения с микроскопами Цейсса : микро 401, [190?]. - 25, [1] с. - Текст : непосредственный. Guth H. Kalibrierung des COSMOS-2D Mikroskops / H.Guth,A.Hellmann, 1994. - 31 S. - Текст : непосредственный. Harting, Pieter (1812-1885). Mikroskop. Theorie, gebrauch, geschichte und gegenwärtiger zustand desselben : mit 466 in den text eingedruckten holzstichen und einer tafel in farbendruck : deutsche originalausgabe, vom verfasser revidirt und vervollstandigt : in drei bänden. Bd. 3 : Geschichte und gegenwärtiger zustand des mikroskopes sowie der hülfsapparate bei mikroskopischen Untersuchungen : mit 231 in den text eingedruckten holzstichen, 1866. - X, 452 S. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный. Любин Е.В. Фотонно-силовая микроскопия магнитных частиц, клеток крови и волноводных мод фотонных кристаллов : специальность 01.04.21 "Лазерная физика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Е. В. Любин, 2014. - 25 с. - Текст : непосредственный. Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : специальность 01.04.06 "Акустика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный. Дубровкин А.М. Ближнепольная сканирующая микроскопия пространственного распределения светового поля, формируемого нанообъектами / А. М. Дубровкин, 2010. - 22 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Шелаев А.В. Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия и спектроскопия с использованием зондов кантилеверного типа / А. В. Шелаев, 2017. - 21 с. - Текст : непосредственный. Freiberger R. Realisierung eines hochauflosenden EUV-Mikroskops mit einer optimierten Gasentladungsquelle zum Betrieb mit Wellenlangen um 17 nm zur Mikroskopie an M-Kanten von Elementen : специальность "" : диссертация на соискание ученой степени / R. Freiberger, 2017. - 193 l. - Текст : непосредственный. Моисеев К.Ю. Одноатомная оптическая ближнепольная микроскопия на основе оптических линейных стационарных размерных резонансов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.05 / К. Ю. Моисеев, 2003. - 22 с. - Текст : непосредственный. Merz-Wauschkuhn R. Nahfeldmikroskopie im Fern-Infrarot an einem zweidimensionalen Elektronensystem : Diss. / R.Merz-Wauschkuhn, 1992. - 122 S. - Текст : непосредственный. Смольянинов Н.А. Моделирование микроскопических изображений на основе анализа и модификации спектральных характеристик : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.18 / Н. А. Смольянинов, 2013. - 19 с. - Текст : непосредственный. Марциновский Г.А. Взаимодействие лазерного излучения с системой ближнепольный зонд-поверхность : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.05 / Г. А. Марциновский, 2001. - 22 с. - Текст : непосредственный. Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный. Арсланов Н.М. Нанооптика ближнеполевой микроскопии: эффекты распространения светового поля в сужающемся субволновом зонде : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.05 / Н. М. Арсланов, 2006. - 23 с. - Текст : непосредственный. Знаменский В.Ю. Лазерно-плазменный волноводный источник мягкого рентгеновского излучения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.08 / В. Ю. Знаменский, 1996. - 14 с. - Текст : непосредственный. Мельников А.В. Формирование и анализ изображений в микроскопии видимой и ИК области спектра методами спектрофотометрии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.07 / А. В. Мельников, 2012. - 18 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
