• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Китайский, В. Е. Патентная экспертиза : учеб. для студентов и слушателей Рос. гос. ин-та интеллектуал. собственности / В.Е. Китайский. - М. : [б. и.], 2005. - 342 с. - Библиогр.: с. 337-339. - 1000 экз. - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Рос. гос. ин-т интеллектуал. собственности

    ГРНТИ УДК
    10.35347.77.028.4

    Рубрики:
    Патентное дело

    Кл.слова (ненормированные): ПАТЕНТНОЕ ДЕЛО
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-05/16036)

    Шифр в сводном ЭК: b6cd8d62d55f699e26ee54153df0371e



    Заказ фрагмента документа ₽