Полное описание
> Окрепилов, В. В. Современные проблемы стандартизации и метрологии в нанотехнологиях / В. В. Окрепилов. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2013. - 401 с. : ил. - Библиогр.: с. 289-296. - 200 экз. - ISBN 978-5-7422-4096-9. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 81.13.30 620.3:658.516 90.03 620.3:006.91
Рубрики: Нанотехнологии -- Стандартизация
Нанотехнологии -- Метрологическое обеспечение
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-13/5266)>
Шифр в сводном ЭК: 69698198e5c7889e94e4bfc683653116
Окрепилов В.В. Сертификация продукции, услуг и систем качества / В. В. Окрепилов, Н. В. Войтоловский, А. М. Колесников, 1999. - 216 с. - Текст : непосредственный. Окрепилов В.В. Менеджмент качества : в 2 т. Т. 1, 2007. - 504 с. - Текст : непосредственный. Окрепилов В.В. Техническое регулирование в России : выставочные материалы / В. В. Окрепилов, Г. Н. Иванова, 2008. - 431 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Анастасиади Г.П. Управление качеством промышленной продукции / Г. П. Анастасиади, В. В. Окрепилов, М. В. Сильников, 2014. - 411 с. - Текст : непосредственный. Управление качеством : учебное пособие / В. В. Окрепилов, В. В. Глухов, С. Н. Кузьмина [и др.], 2019. - 230 с. - Текст : непосредственный. Окрепилов В.В. Развитие науки о качестве : избранные труды / В. В. Окрепилов, 2019. - 1003 с. - Текст : непосредственный. Окрепилов В.В. Словарь терминов и определений по стандартизации и метрологии в области нанотехнологий / В. В. Окрепилов, 2008. - 209 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Дадинова Л.А. Малоугловое рентгеновское рассеяние в исследовании трехмерных структур бионанокомпозитов на основе ДНК и ряда белков, участвующих в катаболизме Escherichia coli в стационарной фазе роста / Л. А. Дадинова, 2016. - 24 с. - Текст : непосредственный. Ромашко Р.В. Физические принципы организации адаптивных волоконно-оптических информационно-измерительных систем для реконструкции распределений физических полей : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Р. В. Ромашко, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный. Раннев Г.Г. Измерительные информационные системы : учебное пособие / Г. Г. Раннев, 2007. - 280 с. - Текст : непосредственный. Раннев Г.Г. Измерительные информационные системы / Г. Г. Раннев, 2007. - 1 o=электрон. опт. диск (CD-ROM). - Текст : электронный. Синтез, свойства и применение графенов и слоистых наносистем : материалы временных коллективов, 2011. - 71 с. - Текст : непосредственный. Колобова А.В. Исследование и разработка методов метрологического контроля промышленно выпускаемых стандартных образцов состава газовых смесей : специальность 05.11.15 "Метрология и метрологическое обеспечение" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Колобова, 2008. - 23 с. - Текст : непосредственный. Соболев В.И. Информационно-статистическая теория измерений. Измерение случайных величин и случайных векторов / В. И. Соболев, 2006. - 119 с. - Текст : непосредственный. Комшин А.С. Прецизионное измерительно-вычислительное сопровождение циклических электромеханических систем фазохронометрическим методом / А. С. Комшин, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный. Основы нанотехнологий : учебное пособие / Т. И. Абдуллин, Е. Ю. Акшаева, Т. И. Волкова [и др.] ; Ред. А. Ф. Дресвянников, 2011. - 236 с. - Текст : непосредственный. Воробьев А.Е. Импортозамещающие нанотехнологии в топливно-энергетическом комплексе России : выставочные материалы / А. Е. Воробьев, А. Д. Гладуш, 2014. - 158 с. - Текст : непосредственный. Self-assemble, patttern formation and growth phenomena in nano-systems / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-line Molecular building blocks for nanotechnology / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-line Electron correlation in new materials and nanosystems / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-line Nanostructured soft matter / SpringerLink (Online service), 2007 r=on-line Гронский В.И. Методы обработки результатов наблюдений при метрологической аттестации средств и методик выполнения измерений / В. И. Гронский, А. Г. Торба, 1990. - 55 с. - Текст : непосредственный. Гахзар Мохаммед Абдуллах Абдуллах.Совмещение и обработка оптических и инфракрасных изображений в информационно-измерительных системах на базе матричных приборов с зарядовой связью / Гахзар Мохаммед Абдуллах Абдуллах, 2015. - 16 с. - Текст : непосредственный. Генералов М.Б. Криохимическая нанотехнология / М. Б. Генералов, 2006. - 325 с. - Текст : непосредственный. Ковалев А.И. Прогнозирование рынка нанопродуктов / А. И. Ковалев, 2013. - 182 с. - Текст : непосредственный. Информационно-измерительные и управляющие системы и устройства : сборник / Южно-Уральский гос. ун-т (Челябинск), Приборостроительный факультет, 2011. - 252 с. - Текст : непосредственный. Основы построения информационно-измерительных систем : монография / Н. А. Винокурова, В. В. Гайдученко, А. И. Карякин [и др.], 2004. - 267 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Соловьев В.В. Разработка метрологического обеспечения измерений геометрических и механических величин методами полуконтактной сканирующей зондовой микроскопии и наноиндентирования : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.15 / В. В. Соловьев, 2010. - 34 с. - Текст : непосредственный. Окрепилов В.В. Стандартизация и метрология в нанотехнологиях / В. В. Окрепилов, 2008. - 263 с. - Текст : непосредственный. Окрепилов В.В. Современные проблемы стандартизации и метрологии в нанотехнологиях / В. В. Окрепилов, 2013. - 401 с. - Текст : непосредственный. Метрология в микроэлектронике, микросистемной технике и нанотехнологии : учеб. пособие / Е. С. Горнев [и др.], 2012. - 204 с. - Текст : непосредственный. Труды. Вып. 55(147) : Исследования в области обеспечения единства измерений и определения параметров нанообъектов, 2009. - 53 с. - Текст : непосредственный. Труды. Вып. 56(148) : Наночастицы в природных и технологических средах. Методы и средства измерений, 2009. - 107 с. - Текст : непосредственный. Бычкова М.Я. Создание государственных стандартных образцов и методик измерения модуля упругости и коэффициента трения для контроля и сертификации наноструктурных покрытий : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.16.06 / М. Я. Бычкова, 2012. - 26 с. - Текст : непосредственный. Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии / О. Д. Анашина [и др.]; под ред. В. Н. Крутикова, 2011. - 590 с. - Текст : электронный. Бутусов, Леонид Алексеевич. Стандартизация в сфере нанотехнологий : учебное пособие / Л. А. Бутусов, М. В. Кочнева, В. В. Копылов, 2022. - 131, [1] с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Полякова, Марина Андреевна. Управление качеством и стандартизация объектов нанотехнологий : учебное пособие / М. А. Полякова, Э. М. Голубчик, 2025. - 150 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽