• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Окрепилов, В. В. Современные проблемы стандартизации и метрологии в нанотехнологиях / В. В. Окрепилов. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2013. - 401 с. : ил. - Библиогр.: с. 289-296. - 200 экз. - ISBN 978-5-7422-4096-9. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    81.13.30620.3:658.516
    90.03620.3:006.91

    Рубрики:
    Нанотехнологии -- Стандартизация
    Нанотехнологии -- Метрологическое обеспечение

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-13/5266)

    Шифр в сводном ЭК: 69698198e5c7889e94e4bfc683653116



    Заказ фрагмента документа ₽