• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Сысоев, С. Е. Исследование нанометровых пленок собственных оксидов полупроводника InP и ВТСП Dy1 Ba2 Cu3 O7-б методом фотоэлектронной спектроскопии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 / С. Е. Сысоев. - СПб, 1998. - 18 с. : ил. - Текст : непосредственный.
    В надзаг. :Рос.АН.Физико-техн. ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.:с. 18(8 назв.)

    ГРНТИ УДК
    45.09.37621.315.61-416(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР98-2515)

    Шифр в сводном ЭК: 083a3bd8ab70acfa3fd3c73704acd87d



    Заказ фрагмента документа ₽