Полное описание
Федоров, И. А.
ГРНТИ УДК 47.13.81 621.3.049.76:620.187(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар03-1085)
Шифр в сводном ЭК: b479d559a16c16ca51b1739fc8685161
Золотарев М.Л. Теория линейных операторов в гильбертовом пространстве : выставочные материалы / М. Л. Золотарев, И. А. Федоров, 2014. - 115 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Оптика мощных лазеров / Беляев А.А.,Лобачев В.В.,Максимов Ю.П.,Федоров И.А. Ч. 3 : Система вывода излучения / А.А.Беляев,А.П.Жевлаков,В.В.Лобачев и др., 2002. - 119 с. - Текст : непосредственный. Оптика мощных лазеров : учеб. пособие / Беляев А.А.,Лобачев В.В.,Максимов Ю.П.,Федоров И.А. Ч. 5 : Пассивные методы коррекции аберраций волнового фронта / В. В. Лобачев [и др.], 2007. - 111 с. - Текст : непосредственный. Оптика мощных лазеров : учеб. пособие / В. В. Лобачев [и др.]. Ч. 6 : Нелинейные методы коррекции аберраций волнового фронта : учеб. пособие, 2013. - 162 с. - Текст : непосредственный. Измерение энергетических характеристик лазерного излучения / Л. Б. Кочин [и др.]; под ред. С. Ю. Страхова, 2015. - 139 с. - Текст : непосредственный. Федоров, И. А. Непрерывные химические лазеры на рабочих молекулах фтористого водорода и фтористого дейтерия : Учеб.пособие. Кн. 2, 1994. - 182 с. - Текст : непосредственный. Федоров И.А. Информационно-аналитическая поддержка процессов управления доходами авиакомпании : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.06 / И. А. Федоров, 2006. - 22 с. - Текст : непосредственный. Федоров И.А. Нелокальное управление квантовым состоянием света : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.05 / И. А. Федоров, 2016. - 31 с. - Текст : непосредственный. Федоров И.А. Разработка конструктивно-технологических решений повышения разрешающей способности метода магнитной силовой микроскопии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / И. А. Федоров, 2002. - 22 с. - Текст : непосредственный. Оптика мощных лазеров / Беляев А.А.,Лобачев В.В.,Максимов Ю.П.,Федоров И.А. Ч. 4 : Зеркала / А. А. Беляев [и др.], 2005. - 165 с. - Текст : непосредственный. Федоров И.А. Электронная структура и химическая связь в карбонатах щелочных металлов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 02.00.04 / И. А. Федоров, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный. Федоров И.А. Моделирование размерных связей процесса нивелировки с целью разработки информационной поддержки, обеспечивающей заданную точность геометрических параметров ЛА : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.07.02 / И. А. Федоров, 2002. - 24 с. - Текст : непосредственный. Оптика мощных лазеров / Беляев А.А.,Лобачев В.В.,Максимов Ю.П.,Федоров И.А. Ч. 1 : Формирование излучения, 2001. - 126 с. - Текст : непосредственный. Оптика мощных лазеров / Беляев А.А.,Лобачев В.В.,Максимов Ю.П.,Федоров И.А. Ч. 2 : Оптическое качество активных сред / В.В.Лобачев,Ю.П.Максимов,С.Ю.Страхов,И.А.Федоров, 2001. - 117 с. - Текст : непосредственный. Федоров И.А. Расчет термоэлектромеханических процессов в неоднородных средах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.02.04 / И. А. Федоров, 1997. - 21 с. - Текст : непосредственный. Уточненные аппроксимации сечений и скоростей реакций, существенных для управляемого термоядерного синтеза / А. А. Белов, Н. Н. Калиткин, О. И. Топор, И. А. Федоров, 2019. - 28 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лосев В.В. Развитие методов зондовой микроскопии для исследования и контроля поверхностей материалов и изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.11.13 / В. В. Лосев, 2002. - 28 с. - Текст : непосредственный. Федоров И.А. Разработка конструктивно-технологических решений повышения разрешающей способности метода магнитной силовой микроскопии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / И. А. Федоров, 2002. - 22 с. - Текст : непосредственный. Хмеленин Д.Н. Электронная микроскопия композиций на основе тонких пленок для микроэлектроники : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Д. Н. Хмеленин, 2013. - 23 с. - Текст : непосредственный. Коровкина Н.М. Развитие методов атомно-силовой микроскопии для контроля электрических и электрофизических параметров объектов микроэлектроники : автореф. дис. .. КАНД. ТЕХН. НАУК: 05.27.01 / Н. М. Коровкина, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный. Сагунова И.В. Исследование и модификация наноструктур с использованием токовых режимов зондовой микроскопии и литографии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / И. В. Сагунова, 2010. - 23 с. - Текст : непосредственный. Дремова Н.Н. Растровая электронная микроскопия многослойных структур в обратноотраженных электронах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / Н. Н. Дремова, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный. Тихоглаз Ю.С. Математические модели и алгоритмы функционирования систем распознавания в сканирующей зондовой микроскопии : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.01 / Ю. С. Тихоглаз, 2010. - 23 с. - Текст : непосредственный. Алекперов С.Д. Применение сканирующей туннельной микроскопии для анализа морфологии поверхности и ее модификация : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / С. Д. Алекперов, 1990. - 26 с. - Текст : непосредственный. Лемешко С.В. Исследование и разработка сканирующей зондовой микроскопии с проводящими кантилеверами для создания и диагностики наноразмерных структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.27.01 / С. В. Лемешко, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный. Киселев А.Н. Электронная микроскопия высокого разрешения некоторых типов наноструктур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Н. Киселев, 1995. - 24 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
