Полное описание
> Сорокин, И. Н. Физико-химические основы прочности неразъемных соединений микроэлектронных устройств : учеб. пособие по курсу "Физ.-хим. основы технологии микроэлектроники" / И.Н.Сорокин,Г.А.Яковлев. - М. : [б. и.], 1994. - 199 c. : ил. - 200 экз. - ISBN 5-7256-0030-0. - Текст : непосредственный. В надзаг.: Моск. гос. ин-т электрон. техники (Техн. ун-т). Библиогр.: с.198 (4 назв.)
ГРНТИ УДК 47.13.11 621.3.049.76.019.3
Рубрики: Микроэлектронные приборы -- Надежность
Доп. точки доступа: Яковлев, Г.А.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-94/14546)>
Шифр в сводном ЭК: d56479879df3e89f8b42622e32ec5557
Сорокин И.Н. Диэлектрические пленки в полупроводниковой электронике / И. Н. Сорокин, М. В. Акуленок, 1995. - 116 c. - Текст : непосредственный. Курсов В.Н. Бухгалтерский учет в коммерческом банке. Новые типовые бухгалтерские проводки операций банка / В. Н. Курсов, Г. А. Яковлев, 2004. - 267 с. - Текст : непосредственный. Курсов В.Н. Бухгалтерский учет в коммерческом банке. Новые типовые бухгалтерские проводки операций банка : сборник / В. Н. Курсов, Г. А. Яковлев, 2010. - 216 с. - Текст : непосредственный. Яковлев Г.А. Организация предпринимательской деятельности : учебное пособие / Г. А. Яковлев, 2010. - 312 с. - Текст : непосредственный. Сорокин И.Н. Технология электронных компонентов / И. Н. Сорокин, М. В. Акуленок, 1999. - 196 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 15(1672) : Физико-механические свойства клеев, применяемых для сборки полупроводниковых приборов, интегральных и гибридно-интегральных микросхем : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1973-1991 гг. / Г.А.Яковлев, 1991. - 61 с. - Текст : непосредственный. Яковлев Г.А. Основы коммерции : выставочные материалы / Г. А. Яковлев, 2012. - 223 с. - Текст : непосредственный. Курсов В.Н. Бухгалтерский учет в коммерческом банке. Новые типовые бухгалтерские проводки операций банка / В. Н. Курсов, Г. А. Яковлев, 1998. - 333 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Расчетные и экспериментальные оценки поля рентгеновского излучения, создаваемого высоковольтными элементами установки "ускоритель-тандем БНЗТ" / А. Г. Башкирцев [и др.], 2012. - 18 с. - Текст : непосредственный. Регистрация темного тока большой интенсивности в ускорителе-тандеме с вакуумной изоляцией после увеличения апертуры ускорительного канала / В. И. Алейник [и др.], 2012. - 14 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Виноградов М.И. Вакуумные процессы оборудование ионно-и электронно- лучевой технологии / М. И. Виноградов, Ю. П. Маишев, 1989. - 53 с. - Текст : непосредственный. Полтавцев Ю.Г. Технология обработки поверхностей в микроэлектронике / Ю. Г. Полтавцев, А. С. Князев, 1990. - 206 c. - Текст : непосредственный. Моносилан в технологии полупроводниковых материалов / Е. П. Белов, Е. Н. Лебедев, Ю. П. Григораш [и др.], 1989. - 66 с. - Текст : непосредственный. Голод С.В. Методы формирования трехмерных микро- и наноструктур на основе напряженных SiGe/Si пленок : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / С. В. Голод, 2006. - 23 с. - Текст : непосредственный. Пичугин К.Н. Эффекты квантовой интерференции в электронном транспорте через двумерные наноструктуры : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. Н. Пичугин, 2007. - 18 с. - Текст : непосредственный. Игонина Т.И. Технологическое обеспечение качества поверхности полупроводниковых пластин информационно-измерительных устройств / Т. И. Игонина, 2007. - 22 с. - Текст : непосредственный. Неустроев Е.П. Формирование электрически активных центров в кремнии, имплантированном ионами газов средних (-10 кэВ/а.е.м.) и высоких (1МэВ/а.е.м.) энергий, при отжигах до 1050 С : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Е. П. Неустроев, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный. Новиков П.Л. Моделирование процессов образования пористого кремния и гомоэпитаксии на его поверхности : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. Л. Новиков, 2000. - 19 с. - Текст : непосредственный. Моряков О.С. Сборка / О. С. Моряков, 1990. - 126 c. - Текст : непосредственный. Мартынов В.В. Литографические процессы / В. В. Мартынов, Т. Е. Базаров, 1990. - 128 c. - Текст : непосредственный. Nastasi M. Ion implantation and synthesis of materials / M. Nastasi, J. W. Mayer, 2006 r=on-line Пак М.М. Моделирование элементов нейронных сетей на основе твердотельных нанообъектов : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / М. М. Пак, 2006. - 22 с. - Текст : непосредственный. Смирнов А.Д. Технология приборов на арсениде галия / А. Д. Смирнов, 1994. - 48 c. - Текст : непосредственный. Анищенко Л.М. Автоматизированное проектирование и моделирование технологических процессов микроэлектроники / Л. М. Анищенко, С. Ю. Лавренюк, В. В. Петрухин, 1995. - 177 c. - Текст : непосредственный. Бондаренко Л.В. Структура и поверхностная проводимость металлических и металл-фуллереновых систем на реконструированных поверхностях Si(111) / Л. В. Бондаренко, 2012. - 22 с. - Текст : непосредственный. Жук С.В. Исследование процессов лазерного отжига полупроводников методами имитационного моделирования : специальность 05.27.05 "", 05.13.16 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. В. Жук, 1990. - 18 с. - Текст : непосредственный. Экспериментально-теоретическое исследование процесса формирования системы кислородосодержащий преципитат-дислокационные петли / Р. В. Гольдштейн, К. Б. Устинов, П. С. Шушпанников [и др.], 2007. - 29 с. - Текст : непосредственный. Гиндин П.Д. Разработка новых технологий и оборудования на основе метода лазерного управляемого термораскалывания для обработки деталей приборостроения, микро- и оптоэлектроники : специальность 05.11.14 "Технология приборостроения" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / П. Д. Гиндин, 2010. - 43 с. - Текст : непосредственный. Herstellung beweglicher LIGA-Mikrostrukturen durch positionierte Abformung / A. Both, W. Bacher, M. Heckele, R. Ruprecht, 1995. - III,103 S. S. - Текст : непосредственный. Бабанов Ю.Е. Механизмы поверхностных процессов при травлении кремния / Ю. Е. Бабанов, В. Б. Световой, 1990. - 47 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Рубаник Ю.Т. Методы обеспечения надежности изделий микроэлектроники на основе принципов теории управления качеством : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук / Ю. Т. Рубаник, 1996. - 41 с. - Текст : непосредственный. Попо, Р. А. Эксплуатационная надежность микроэлектронной техники : учеб. пособие. Ч. 1, 2005. - 58 с. - Текст : непосредственный. Попо, Р. А. Эксплуатационная надежность микроэлектронной техники : учеб. пособие. Ч. 2, 2005. - 156 с. - Текст : непосредственный. Сорокин И.Н. Физико-химические основы прочности неразъемных соединений микроэлектронных устройств : Учеб. пособие по курсу "Физ.-хим. основы технологии микроэлектроники" / И.Н.Сорокин,Г.А.Яковлев, 1994. - 199 c. - Текст : непосредственный. Кузнецов О.А. Прочность элементов микроэлектронной аппаратуры / О. А. Кузнецов, А. И. Погалов, В. С. Сергеев, 1990. - 143 с. - Текст : непосредственный. Оценка и обеспечение надежности изделий микро- и наноэлектроники, микросистемной техники : учеб. пособие / С. П. Тимошенков [и др.]. Ч. 1, 2012. - 287 с. - Текст : непосредственный. Reliability of Microtechnology : Interconnects, Devices and Systems / by Johan Liu, Olli Salmela, Jussi Sarkka, James E. Morris, Per-Erik Tegehall, Cristina Andersson., 2011 r=on-line (Введено оглавление). - Текст : электронный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽