Приложение
для AndroidПолное описание
Фролов, Д. С. Диагностика полупроводниковых структур методом электрохимического вольт-фарадного профилирования : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Д. С. Фролов. - 2016. - 18 с. : ил. - Библиогр.: с. 16-18. - 100 экз. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.13.81 | 621.382-044.3(043) |
Кл.слова (ненормированные): ДИАГНОСТИКА -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар16-9363)
Шифр в сводном ЭК: e5f3edabd429587b848ce21d8249952d
Фролов Д.С. Диагностика полупроводниковых структур методом электрохимического вольт-фарадного профилирования : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Д. С. Фролов, 2016. - 18 с. - Текст : непосредственный.Фролов Д.С. Государственный контроль над финансово-материальными расходами военного ведомства России XIX - начало XX вв. : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.01 / Д. С. Фролов, 2009. - 22 с. - Текст : непосредственный.
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный.Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный.Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный.Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный.Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный.Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЛевицкий В.С. Диагностика приборных структур на основе кремниевых и углеродных слоев методом спектроскопии комбинационного рассеяния света : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / В. С. Левицкий, 2016. - 18 с. - Текст : непосредственный.Фролов Д.С. Диагностика полупроводниковых структур методом электрохимического вольт-фарадного профилирования : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / Д. С. Фролов, 2016. - 18 с. - Текст : непосредственный.Жарких А.П. Диагностические методы оценки качества и надежности полупроводниковых приборов с использованием низкочастотного шума : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / А. П. Жарких, 2005. - 17 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2012. - 42 с. - Текст : непосредственный.Смирнов Д.Ю. Диагностика полупроводниковых изделий на основе параметров низкочастотного шума : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2014. - 43 с. - Текст : непосредственный.Резчиков, Сергей Евгеньевич. Оптимальные процедуры и адаптивные алгоритмы измерения параметров низкочастотного шума полупроводниковых приборов : специальность 2.2.4. - Приборы и методы измерения (электрические и магнитные величины) (технические науки): автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Резчиков Сергей Евгеньевич, 2021. - 25 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽