Полное описание
> Атомно-молекулярная технология и диагностика : учеб.пособие / В.В.Лучинин,А.Н.Дунаев,А.З.Казак-Казакевич и др. ; Санкт-Петербургский гос. электротехнический ун-т им. В. И. Ульянова (Ленина). - СПб. : [б. и.], 1998. - 56 с. : ил. - Авт.указ.на обороте тит.л. - 100 экз. - Текст : непосредственный. В надзаг.:С.-Петерб.гос.электротехн.ун-т.Библиогр.:с.54-55(19 назв.)
ГРНТИ УДК 47.01.81 621.3.049.76.001.4
Рубрики: Микроэлектронные приборы -- Техническая диагностика
Кл.слова (ненормированные): МИКРОЭЛЕКТРОННЫЙ ПРИБОР -- ТЕХНИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА
Доп. точки доступа: Лучинин, В.В.
Дунаев, А.Н.
Казак-Казакевич, А.З.
Санкт-Петербургский гос. электротехнический ун-т им. В. И. Ульянова (Ленина)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-98/46031)>
Шифр в сводном ЭК: 11ad29fed460249160de5c561a9f3d5e
Кривошеева А.Н. Процессы жидкостного химического травления в технологии микросистем. Жидкостное химическое травление полупроводниковых материалов : выставочные материалы / А. Н. Кривошеева, В. В. Лучинин, 2012. - 118 с. - Текст : непосредственный. Лучинин В. В. Нанотехнология: физика, процессы, диагностика, приборы / В. В. Лучинин, А. В. Афанасьев, В. П. Афанасьева, Г. Ф. Глинский [и др.] ; Ред. В. В. Лучинин, 2006. - 551 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный. Информационные технологии. - Журнал, 1997г. № 5. - Текст : непосредственный. Изумрудов О.А. Практикум по твердотельной электронике и микросхемотехнике / О. А. Изумрудов, Н. П. Лазарева, В. В. Лучинин, 1995. - 77 с. - Текст : непосредственный. Ильин В.А. Сертификация и стандартизация в производстве полупроводниковых материалов и приборов : Учеб.пособие / В.А.Ильин,В.В.Лучинин, 1995. - 63 с. - Текст : непосредственный. Атомно-молекулярная технология и диагностика : Учеб.пособие / В.В.Лучинин,А.Н.Дунаев,А.З.Казак-Казакевич и др., 1998. - 56 с. - Текст : непосредственный. Карасев В.А. Введение в конструирование бионических наносистем / В. А. Карасев, В. В. Лучинин, 2011. - 463 с. - Текст : непосредственный. Ильин В.А. Сборник вопросов и задач по методам исследования материалов и компонентов электронной техники / В.А.Ильин,В.В.Лучинин, 1991. - 47 с. - Текст : непосредственный. Информационные технологии. - Журнал, 1999г. № 7. - Текст : непосредственный. Казак-Казакевич А.З. Структурный анализ некристаллических веществ в системе кремний-углерод : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.10 / А. З. Казак-Казакевич, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный. Лучинин В.В. Основы топологического анализа кристаллов интегральных схем : учеб. пособие / В. В. Лучинин, А. О. Гасников, В. В. Трушлякова, 2012. - 64 с. - Текст : непосредственный. Лучинин В.В. Структуро- и формообарзование микро- и наносистем на основе широкозонных материалов,обладающих полиморфизмом : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:01.04.10 / В. В. Лучинин, 1999. - 32 с. - Текст : непосредственный. Карасев В.А. Введение в конструирование бионических наносистем / В. А. Карасев, В. В. Лучинин, 2009. - 463 с. - Текст : непосредственный. Алексеев Н.И. Электроника алмаза : учебное пособие / Н. И. Алексеев, В. В. Лучинин, 2019. - 63, [1] с. - Текст : непосредственный. Алексеев Н.И. Электроника алмаза / Н. И. Алексеев, В. В. Лучинин, 2019. - 143 с. - Текст : непосредственный. Механика / В. Я. Басецкий, И. А. Кондрашкин, А. И. Мамыкин, 1994. - 51 c. - Текст : непосредственный. Теория и расчет электромеханических преобразователей на активных диэлектриках / Н. А. Ганенков, В. И. Закржевский, О. И. Колдунов, Н. С. Пщелко ; Ред. В. И. Закржевский, 1994. - 42 c. - Текст : непосредственный. Применение технологии визуального конструирования программ / Санкт-Петербургский гос. электротехнический ун-т им. В. И. Ульянова (Ленина), 1994. - 47 c. - Текст : непосредственный. Сборник задач по теоретической электротехнике.Теория электромагнитного поля / Санкт-Петербургский гос. электротехнический ун-т им. В. И. Ульянова (Ленина), 1994. - 48 c. - Текст : непосредственный. Автоматизация проектирования программируемых логических интегральных схем / В. И. Анисимов, А. Б. Исаков, Д. С. Молотков, 1997. - 63 с. - Текст : непосредственный. Планирование и обеспечение подготовки кадров для промышленно-экономического комплекса региона : материалы временных коллективов / Санкт-Петербургский гос. электротехнический ун-т им. В. И. Ульянова (Ленина), 2002. - 122 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Радиоэлектроника в Санкт-Петербургском государственном электротехническом университете имени В.И.Ульянова (Ленина) : Сб. науч. тр. / Санкт-Петербургский гос. электротехнический ун-т им. В. И. Ульянова (Ленина). Вып. 1, 1995. - 121 с. - Текст : непосредственный. Экономическая теория : Учеб.пособие / А.А.Карачев,Л.И.Лидванова,Ю.И.Мельников и др.;Под ред.А.А.Карачева,Л.И.Лидвановой, 1995. - 143 c. - Текст : непосредственный. Дискретная математика: переключательные функции : Учеб. пособие / И.В.Герасимов,А.В.Крайников,В.С.Фомичесв,Л.А.Чугунов, 1997. - 80 с. - Текст : непосредственный. Автоматизированное проектирование в радиоэлектронике и приборостроении : Межвуз. сб. науч. тр. / Санкт-Петербург. гос. электротехн. ун-т им. В.И. Ульянова (Ленина), 1994. - 96 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный. Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный. Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный. Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный. Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный. Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный. Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный. Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный. Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный. Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный. Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Марущенко С.Г. Исследование методов и разработка алгоритмов обработки электронно-микроскопических изображений с целью диагностики микроэлектронных приборов : специальность 05.27.07 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / С. Г. Марущенко, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Старовойтов Д.А. Математические методы вычислительной диагностики изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-=мат.наук:05.13.16 / Д. А. Старовойтов, 1992. - 15 с. - Текст : непосредственный. Proceedings of the international conference on microelectronic test structures,Mar. 1990,San Diego(Ca) : Mfiche (5) / International conference on microelectronic test structures (1990 ; San Diego(Ca)) , 1990. - 244 мкфш. - Текст : непосредственный. Чукалина М.В. Реконструкция микрорельефа поверхности и состава приповерхностных слоев объектов микроэлектроники по рентгенофлуоресцентному сигналу : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук:05.27.01 / М. В. Чукалина, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Атомно-молекулярная технология и диагностика : Учеб.пособие / В.В.Лучинин,А.Н.Дунаев,А.З.Казак-Казакевич и др., 1998. - 56 с. - Текст : непосредственный. Матвеев В.М. Резонансная рентгеновская магнитооптика редкоземельных слоистых наноструктур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:05.27.01 / В. М. Матвеев, 1996. - 52 с. - Текст : непосредственный. Щапова И.А. Эллипсометрический метод контроля параметров сложных диэлектрических структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / И. А. Щапова, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный. Papers presented at the IEEE International conference on microelectronic test structures,Nara,Japan,March 22-25,1995 / ICMTS'95, 1996. - 152 p. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽