Полное описание
Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. - Berlin [etc.] : Springer, 20 - . - Текст : непосредственный. 8 : Scanning probe microscopy techniques. - 2008. - LIX, 465 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.]). - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 451-465
ГРНТИ УДК 29.35.43 537.533.35
Рубрики: Микроскопия электронная
Доп. точки доступа: Bhushan, B.\ed.\
Экз-ры полностью 4a57a8faa9ab9fdc4b53f7602c3775ab Копия: Нет сведений об экземплярах Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/18201/8)
Шифр в сводном ЭК: 4a57a8faa9ab9fdc4b53f7602c3775ab
Nanotribology and nanomechanics / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Cancer Nanotheranostics / P. Gopinath [et al.], 2015 r=on-line. - Текст : электронный. Springer handbook of nanotechnology / Ed. B. Bhushan, 2010. - 1 o=электрон. опт. диск (CD-ROM). - Текст : непосредственный. Bhushan B. Tribology and mechanics of magnetic storage devices / B.Bhushan, 1990. - XVIII,1018 p. p. - Текст : непосредственный. Handbook of micro/nano tribology / сост.ed. B. Bhushan, 1999. - 859 p. - Текст : непосредственный. Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 8 : Scanning probe microscopy techniques, 2008. - LIX, 465 p. - Текст : непосредственный. Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 9 : Characterization, 2008. - LIX, 387 p. - Текст : непосредственный. Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 10 : Biomimetics and industrial applications, 2008. - LIX, 427 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology / ed. B. Bhushan, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Micro/nanotribology and its applications : Proc.of the NATO Advanced study inst.on micro/nanotribology and its applications,Sesimbra,Portugal,June 16-28,1996 / Ed.: B. Bhushan, 1997. - XI,676 p. p. - Текст : непосредственный. Encyclopedia of nanotechnology / Ed. B. Bhushan, 2012 r=on-line. - Текст : электронный. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology 3 : vol. 3 / ed. B. Bhushan, 2013 r=on-line. - Текст : электронный. Springer handbook of nanotechnology / ed. B. Bhushan, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Bhushan B. Biophysics of human hair : structural, nanomechanical, and nanotribological studies / B. Bhushan, 2010 r=on-line. - Текст : электронный. Handbook of Nanomaterials Properties / Ed. B. Bhushan, 2014 r=on-line. - Текст : электронный. Fundamentals of tribology and bridging the gap between the macro- and micro/nanoscales : Proc. of the NATO advanced study inst. on fundamentals of tribology a. bridging the gap between the macro- a. micro/nanoscales, Keszthely, Hungary, Aug.13-25, 2000 / Ed. B. Bhushan, 2001. - XXII,963 p. p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 8 : Scanning probe microscopy techniques, 2008. - LIX, 465 p. - Текст : непосредственный. Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 9 : Characterization, 2008. - LIX, 387 p. - Текст : непосредственный. Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 10 : Biomimetics and industrial applications, 2008. - LIX, 427 p. - Текст : непосредственный. Kaupp G. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp, 2006. - XII, 292 p. - Текст : непосредственный. Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 2 : Scanning probe microscopy techniques, 2006. - XLIII, 420 p. - Текст : непосредственный. Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 3 : Characterization, 2006. - XLIII, 378 p. - Текст : непосредственный. Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. 4 : Industrial applications, 2006. - XLIV, 284 p. - Текст : непосредственный. Magnetic microscopy of nanostructures / ed.: H. Hopster, H. P. Oepen, 2005. - XVI, 313 p. - Текст : непосредственный. Wang C. Single molecule chemistry and physics : an introdution / C. Wang, C. Bai, 2006. - XI, 303 p. - Текст : непосредственный. Foster A. Scanning probe microscopy. Atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer, 2006. - XIV, 281 p. - Текст : непосредственный. Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова, 1974. - 319 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный. Handbook of microscopy for nanotechnology / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
