Полное описание
Суворинов, А. В.
ГРНТИ УДК 47.13.81 621.3.049.77-047.84(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР98-2740)
Шифр в сводном ЭК: 67b30b9dd51041411682e0726b2ce99e
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Суворинов А.В. Развитие теории и основ проектирования низковольтного электронно-оптического оборудования для диагностики изделий интегральной электроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.07 / А. В. Суворинов, 1998. - 34 с. - Текст : непосредственный. Суворинов А.В. Ионно-лучевая модификация материалов : Учеб. пособие / А.В.Суворинов, 1990. - 108 с. - Текст : непосредственный. Алексеенко В.А. Металлы в окружающей среде. Лесные ландшафты Северо-Западного Кавказа / В. А. Алексеенко, А. В. Суворинов, Е. В. Власова, 2008. - 260 с. - Текст : непосредственный. Алексеенко В.А. Металлы в окружающей среде. Прибрежные аквальные ландшафты Черноморского побережья России / В. А. Алексеенко, А. В. Суворинов, Е. В. Власова, 2012. - 359 с. - Текст : непосредственный. Эколого-геохимические исследования : учеб. пособие / В.А.Алексеенко,А.В.Суворинов,П.Л.Головинский и др, 2003. - 169 с. - Текст : непосредственный. Суворинов А.В. О задачах Межгосударственного координационного совета по научно-технической информации (МКСНТИ) по развитию сотрудничества государств-участников СНГ в сфере межгосударственного обмена научно-технической информацией / А. В. Суворинов, Л. Ф. Борисова. - Текст : непосредственный // Инновации. - СПб : ОАО "Трансфер", 2009. - № 11 (133). - с. 15-20. Металлы в окружающей среде. Почвы геохимических ландшафтов Ростовской области / В.А.Алексеенко,А.В.Суворинов,В.Ап.Алексеенко,А.Б.Бофанова, 2002. - 311 с. - Текст : непосредственный. Научно-техническая информация. Серия 1, Организация и методика информационной работы. - Журнал, 2008г. № 3. Основные вопросы развития информационной инфраструктуры и информационного обеспечения инновационной деятельности / А. В. Суворинов, А. В. Анютин, В. С. Соколовская, Федоров В. И. - Текст : непосредственный // Научно-техническая информация. Сер.1. Организация и методика информационной работы : Ежемес.науч.-техн.сб. / ВИНИТИ. - М. - 2008. - N3. - с. 1-5 Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный. Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный. Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный. Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный. Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный. Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Фадеев А.В. Исследование латеральной однородности плазмы в реакторах микроэлектроники методами двухракурсной эмиссионной томографии / А. В. Фадеев, 2014. - 22 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Волоховский А.Д. Исследование и разработка системы характеризации процессов формирования наноразмерных элементов интегральных схем / А. Д. Волоховский, 2018. - 27 с. - Текст : непосредственный. Алексахин А.В. Разработка автоматизированных систем алмазно-абразивной резки слитков полупроводниковых и диэлектрических материалов / А. В. Алексахин, 2018. - 23 с. - Текст : непосредственный. Чакветадзе Д.К. Припоечные композиты на основе стекол системы PbO-B2 O3 и R2 O-SnO-P2 O5 (R=Li, Na, K) : специальность 05.17.11 - Технология силикатных и тугоплавких неметаллических материалов: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Д. К. Чакветадзе, 2019. - 16 с. - Текст : непосредственный. Гулидов Д.Н. Использование анизотропии свойств полуфабрикатов для оптимизации технологии кремниевых ИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.01 / Д. Н. Гулидов, 1992. - 50 с. - Текст : непосредственный. Дормушев А.Е. Повышение эффективности операции разрезания заготовок из хрупких неметаллических материалов путем активации элементов технологической системы : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.03.01 / А. Е. Дормушев, 2004. - 18 с. - Текст : непосредственный. Давлятшина А.А. Физико-химические процессы в неравновесной низкотемпературной плазме HCI и его смесей с азотом и кислородом : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 02.00.04 / А. А. Давлятшина, 2013. - 16 с. - Текст : непосредственный. Сосунов А.Г. Теплофизические исследования и разработка реакторного блока установки быстрой термической обработки : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.07 / А. Г. Сосунов, 2000. - 24 с. - Текст : непосредственный. Суворинов А.В. Развитие теории и основ проектирования низковольтного электронно-оптического оборудования для диагностики изделий интегральной электроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.27.07 / А. В. Суворинов, 1998. - 34 с. - Текст : непосредственный. Салеев Д.В. Алгоритмическое обеспечение подсистемы оптимизации технологического процесса производства интегральных схем типа ТТЛ : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.06 / Д. В. Салеев, 2016. - 16 с. - Текст : непосредственный. Филипенко Н.А. Геттерирование электрически активных дефектов в полупроводниковых структурах : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Н. А. Филипенко, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный. Чумаров С.Г. Исследование и разработка методов обеспечения оптимальной технологической воспроизводимости аналоговых микросборок по критерию точности электрических выходных параметров : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.12.04 / С. Г. Чумаров, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный. Зайцев Н.А. Стабилизация структурно-примесных и электрофизических свойств системы Si-SiO в производстве кремниевых микросхем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 06.27.01 / Н. А. Зайцев, 1994. - 51 с. - Текст : непосредственный. Bergmann R.B. Siliziumschichten auf Siliziumdioxid mittels Flussigphasenepitaxie-Herstellung und Charakterisierung von Schichtsystemen : Diss. / R.B.Bergmann, 1991. - 132 S. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
