Полное описание
Новиков, Ю. А.
ГРНТИ УДК 29.35.43 621.385.833.2(04)
Рубрики: Микроскопы электронные
Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ
Доп. точки доступа: Раков, А.В.
Стеколин, И.Ю.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/42285/19(1995))
Шифр в сводном ЭК: a04350b8bf427f12a9dd4033fe1c9ed6
Новиков Ю.А. Вторичная электронная эмиссия рельефной поверхности твердого тела : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Ю. А. Новиков, 1995. - 37 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Новиков Ю.А. Геодезическое обеспечение кадастровой деятельности : учебное пособие / Ю. А. Новиков, В. Н. Щукина, Ю. Е. Голякова, 2018. - 95 с. - Текст : непосредственный. Расчет и проектирование массообменных аппаратов : Учеб.пособие / В.Я.Лебедев,Е.П.Барулин,Т.М.Веренина,Ю.А.Новиков, 1994. - 178 c. - Текст : непосредственный. Киркинский В.А. Теоретическое моделирование холодного ядерного синтеза : Препринт / В.А.Киркинский,Ю.А.Новиков, 1998. - 48 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный. Механизмы вторичной электронной эмиссии рельефной поверхности твердого тела : Сб. ст. / Ред. Ю. А. Новиков, 1998. - 127 с. - Текст : непосредственный. Стеколин И.Ю. Вторичная электронная эмиссия рельефных субмикронных кремниевых структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / И. Ю. Стеколин, 1994. - 19 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и сертификация в сфере услуг : Учеб.пособие для студентов образоват.учреждений высш.образования по спец.230700 "Сервис" / А.В.Раков,В.И.Королькова,Г.Н.Воробьева и др.;Под ред.А.В.Ракова, 2002. - 208 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Модели и способы организации распределенных систем сбора измерительной информации при проведении пусков ракет-носителей : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.13 / Ю. А. Новиков, 2009. - 17 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и сертификация в сфере услуг : Учеб. пособие / Ред. А. В. Раков, 2004. - 208 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. On some regularity of positron annihilation in polycrystal metals : Preprint / Ю. А. Новиков, A. V. Rakov, V. P. Shantarovich, 1991. - 11 p. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Исследование работы песчаных армированных по контуру свай в слабых глинистых основаниях под ленточными фундаментами : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.23.02 / Ю. А. Новиков, 2015. - 22 с. - Текст : непосредственный. Михайлов А.К. Насосы холодильной техники : Учеб. пособие для студентов вузов по направлению "Технол. машины и оборуд." и спец. "Техника и физика низ. температур" / А. К. Михайлов, Ю. А. Новиков, В. А. Юрченко, 1996. - 286 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. About accuracy of dimensions measurements of microrelief elements in an SEM / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1996. - 9 p. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный. Телицын В.Л. Результаты взаимодействия озер, болот водоемного генезиса с окружающей средой и природоохранные мероприятия / В. Л. Телицын, Ю. А. Новиков. - Текст : непосредственный // Нефть и газ. - Тюмень : ТюмИИ, 2018. - № 4. - с. 130-136 Новиков Ю.А. Некоторые следствия изотопической симметрии пионов / Ю.А.Новиков, 1995. - 12 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Исследование анизотропии нелинейного поглощения в кристаллах ИАГ: V / Н. Н. Ильичев, А. В. Кирьянов, П. П. Пашинин, 1995. - 14 c. - Текст : непосредственный. Исследование поляризационных характеристик двухфотонного поглощения в кристалле LIF:F на длине волны 1.06 МКМ / Т. Т. Басиев, Н. Н. Ильичев, А. В. Кирьянов, 1995. - 26 c. - Текст : непосредственный. Минеев А. Автоматическое согласование газоразрядного лазера с генератором ВЧ-накачки / А. Минеев, П. А. Полушин, А. Г. Самойлов, 1993. - 19 c. - Текст : непосредственный. Акулина Д.К. Рупорно-линзовая ("ускорительная") антенна для диагностики плазмы / Д. К. Акулина, Г. А. Гладков, А. Н. Накладов, 1994. - 18 c. - Текст : непосредственный. Исследование конвективных потоков изотермической жидкости в методе Чохральского, вызванных низкочастотными вибрациями кристалла / Е. В. Шариков, А. З. Мяльдун, А. И. Простомолотов, Н. К. Толочко, 1993. - 37 c. - Текст : непосредственный. Зыбин Д.Н. К вопросу о механизме ионизации в приэлектродных слоях слаботочного ВЧЕР при поперечной накачке СО2-лазеров / Д. Н. Зыбин, 1994. - 41 c. - Текст : непосредственный. Когерентная мультипольная передача энергии электронного возбуждения в кластерах резонансно взаимодействующих частиц и ее использование для квантовой информатики / И. Т. Басиева, С. К. Секацкий, К. К. Пухов, А. А. Басиев, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный. Лукьянчиков Г.С. О нетепловой реактивной силе, возникающей при электрическом разряде в системе эмиттирующих электродов / Г. С. Лукьянчиков, 2003. - 9 с. - Текст : непосредственный. Муляров Е.А. Диэлектрическое усиление экситонов в полупроводниковых квантовых нитях / Е. А. Муляров, С. Г. Тиходеев, 1995. - 13 c. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik". - 193 c. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Карташев В.А. Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный. Kaczmarek D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych / D.Kaczmarek, 1999. - 110 s. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный. Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный. Gloede W. Vom Lesestein zum Elektronenmikroskop / W.Gloede, 1986. - 248 S. - Текст : непосредственный. Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный. Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 1. Общая часть. Гл.2,3,4 / ВЦП. - 106 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Карташев В.А. Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный. Сканирующий туннельный микроскоп: наблюдение атомарных структур, субволновая фокусировка света / А.М.Прохоров,Г.Я.Зуева,Н.В.Сережкина,В.С.Зуев;Прохоров А.М., Зуева Г.Я., Сережкина Н.В. и др, 2001. - 15 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный. Солдатенко Г.А. Объектив электронного микроскопа на постоянных магнитах / Г.А.Солдатенко, 1991. - 28 с. - Текст : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
