Полное описание
Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu. - Tokyo : [s. n.], 1995. - 3309-3411 p. p. : ill. - (Japanese journal of applied physics.Pt.1 ; vol.34,N 6B,1995). - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.35.43 537.533.35(063)
Рубрики: Микроскопия туннельная -- Съезды и конференции
Кл.слова (ненормированные): ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп. точки доступа: Kawazu, A.\ed.\
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W2806/Vol.34,N 6B,1995)
Шифр в сводном ЭК: 89a0c79fda0e6534333714518b5aec72
Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Dry process : Papers presented at the 16th Dry process symposium,held in Tokyo,10-11 Nov.1994 / DPS'94, 1995. - 2073-2195 p. p. - Текст : непосредственный. Ultrasonic electronics : 15th symp.on ultrasonic electronics,held in Kyoto,Nov.28-30,1994 / USE 94, 1995. - 2515-2950 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный. Mesoscopic physics and electronics : Papers presented at the intern.workshop on mesoscopic physics and electronics,held from March 4-6,1995 in Tokyo / MPE'95, 1995. - 4279-4578 p. p. - Текст : непосредственный. Ferroelectric materials and their applications : Papers presented at the ferroelectric materials and their applications,held in Kyoto,May 24-27,1995 / FMA-12, 1995. - 5077-5482 p. p. - Текст : непосредственный. Ultrasonic electronics : Papers presented at the 16th symp.on ultrasonic electronics,Tsukuba,Nov.27-29,1995 / USE95, 1996. - 2879-3299 p. p. - Текст : непосредственный. Solid state devices and materials : Papers presented at the 1995 Intern.conf.on solid state devices and materials,Osaka,Aug.21-24 / SSDM'95, 1996. - 793-1597 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : Papers were presented at the inten. colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.7-9,1995 / Ed. S. Hosoki, 1996. - 3695-3797 p. p. - Текст : непосредственный. Solid state devices and materials : Papers presented at the intern.conf.on solid state devices and materials,held in Yokohama,Aug.23-26 1994 / SSDM'94, 1995. - 691-1412 p. p. - Текст : непосредственный. Dry process : The 15th Dry process symp.,Tokyo,Nov.1-2,1993 / DPS 93, 1994. - 2133-2438 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Hirosima,9-11 Dec.1993 / Ed. A. Kawazu, 1994. - V,3657-3790,11 p. p. - Текст : непосредственный. Plasma processing : Papers presented at the 2nd intern.conf.on reactive plasma and 11th symp.on plasma processing(SPP-11),held in Yokohama,Jan.19-21 1994 / ICRP-2, 1994. - 4157-4490,12 p. p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : РЭМ'99, июнь 1999 г.Тез. докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (11 ; 1999) , 1999. - 145 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 1, 1998. - 653,XII p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 2, 1998. - 661-1288,XII p. p. - Текст : непосредственный. XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ-2011 : 30 мая - 2 июня 2011 г.: тезисы докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (17 ; 2011 ; Черноголовка) , 2011. - 279 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный. XVII Российская конференция по электронной микроскопии : ЭМ'98, 15-18 июня 1998 г.Тез.докл. / Российская конф. по электронной микроскопии (17 ; 1998 ; Черноголовка) , 1998. - 325 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
