Полное описание

Карташев, В. А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина. - М. : [б. и.], 2004. - 20 с. : ил. - (Препринт / Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша (Москва) ; 88 за 2004 г.). - Библиогр.: с. 24(2 назв.). - 59 экз. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	621.385.833.2(04)

Рубрики:
Микроскопы электронные

Доп. точки доступа:
Бурухина, Т.Ф.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/16400/88 за 2004 г.)

Шифр в сводном ЭК: 285b01b8175218c05b49f57e56a50cad

Заказать
Заказ фрагмента документа ₽