Приложение
для AndroidПолное описание
Определение рода адатомов и их положения на поверхности монокристалла путем прострела тонких пленок ионами в условиях каналирования / А.А.Джурахалов,Э.С.Парилис,А.М.Расулов и др. - Ташкент : [б. и.], 1989. - 16 с. : ил. - (Препринт / Институт электроники им.У.А.Арифова(Ташкент) ; 23). - 100 экз. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 14 (11 назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.19.16 | 539.211(04) |
Рубрики:
Твердые тела -- Поверхностные явления -- Методы исследования
Кл.слова (ненормированные): ИССЛЕДОВАНИЕ -- МЕТОД -- ПОВЕРХНОСТНОЕ ЯВЛЕНИЕ -- ТВЕРДОЕ ТЕЛО
Доп. точки доступа:
Джурахалов, А.А.
Парилис, Э.С.
Расулов, А.М.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/46063/23)
Шифр в сводном ЭК: a396f5762957c6bfa31e3b55513f6378
Лифанова Л.Ф. Влияние динамического атомного перемешивания под действием низкоэнергетичной ионной бомбардировки аргоном на термостимулированное выделение аргона / Л. Ф. Лифанова, Э. Р. Чалбаш, Р. У. Эльмуратов, 1989. - 15 с. - Текст : непосредственный.
Определение рода адатомов и их положения на поверхности монокристалла путем прострела тонких пленок ионами в условиях каналирования / А.А.Джурахалов,Э.С.Парилис,А.М.Расулов и др., 1989. - 16 с. - Текст : непосредственный.Ильясов А.З. Исследование состава и структуры твердых тел с помощью позитронов и ионов гелия / А.З.Ильясов, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Балтенков А.С. Угловое распределение аннигиляционных фотонов в различных геометриях эксперимента / А.С.Балтенков,Г.И.Журавлева, 1992. - 20 с. - Текст : непосредственный.Буряков И.А. Дрейф - спектрометр для контроля следовых количеств аминов в атмосфере воздуха : Препринт / И. А. Буряков, Е. В. Крылов, А. Л. Макась, 1991. - 17 с. - Текст : непосредственный.Ильясов А.З. Влияние разрешающей способности установки на точность оценивания параметров кривых угловой корреляции аннигиляционных гамма-квантов / А.З.Ильясов,Э.М.Пивник,С.В.Шевелев, 1994. - 9 c. - Текст : непосредственный.Шевелев С.В. Восстановление анизотропных распределений из экспериментальных данных аннигиляции позитронов / С.В.Шевелев, 1994. - 16 c. - Текст : непосредственный.Абдукаримов Э.Т. Получение глубоких отверстий с помощью электроэрозионной обработки материалов / Э.Т.Абдукаримов, 1990. - 16 c. - Текст : непосредственный.Кулагин И.А. Дисперсионные зависимости нелинейных восприимчивостей третьего порядка атомов щелочных металлов и щелочноземельных ионов / И.А.Кулагин,Т.Усманов, 1990. - 16 с. - Текст : непосредственный.Турсунов К.С. Исследование поверхностной ионизации молекул третичных аминов, содержащих -электроны / К. С. Турсунов, У. Х. Расулев, Э. Г. Назаров, 1990. - 23 с. - Текст : непосредственный.Распределение дефектов в кремнии, подвергнутом терморадиационной обработке / А.З.Ильясов,О.П.Канушина,Ш.М.Малахов и др., 1990. - 12 с. - Текст : непосредственный.Абдукаримов Э.Т. Влияние диэлектрической среды на чистоту поверхности токопроводящих материалов при электроэрозионной обработке / Э.Т.Абдукаримов,Р.М.Рустамов, 1990. - 9 с. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
IBM Journal Research <& >Development / IBM. - Журнал выходит с 1957г. - Текст : непосредственный. Neuffer A. Diagnostik und Modellierung einer planaren Magnetron-Sputterquelle / A. Neuffer, 1999. - 113 S. - Текст : непосредственный.Physics of thin films. Advances in research and development / Ed.:G.Hass. Vol. 15 : Thin films for advanced electronic devices: Xerox.(3 kor.), 1991. - XII,332 p. p. - Текст : непосредственный.Structure of surfaces and interfaces as studied using synchrotron radiation : материал технической информации, 1990. - 341 p. - Текст : непосредственный.Thin films: trends and new applications : Proc. of the 2nd intern. symp. on trends and new applications in thin films, Regensburg, F.R.G., 27 Febr.- 3 Mar., 1989 / Ed.:H.Hoffmann. Vol. 1, 1989. - XII,336 p. p. - Текст : непосредственный.Thin films: trends and new applications : Proc. of the 2nd intern. symp. on trends and new applications in thin films, Regensburg, F.R.G., 27 Febr.- 3 Mar., 1989 / Ed.:H.Hoffmann. Vol. 2, 1989. - IX,353 p. p. - Текст : непосредственный.Лазерная атомно-молекулярная технология и диагностика элементарных процессов : сборник / Ред. Н. И. Коротеев, 1990. - 222 с. - Текст : непосредственный.Семенов А.П. Пучки распыляющих ионов: получение и применение / А. П. Семенов, 1999. - 207 с. - Текст : непосредственный.structure of surfaces III : материалы временных коллективов / Ed. S. Y. Tong, 1991. - XVIII,683 p. p. - Текст : непосредственный. IBM Journal Research <& >Development. - Журнал, 1999г. т. 43 № 5/6. IBM Journal Research <& >Development. - Журнал, 1995г. т. 39 № 6. Mebert J. Untersuchung der Phononenstreung in amorphen Einzel- und Mehrfachschichten und der Zusammenhang mit den Tieftemperaturanomalien glaserner Systeme / J. Mebert, 1991. - 187 S. - Текст : непосредственный.Zeppenfeld P. Phasenubergange und Dynamik von Festkorperoberflachen und physisorbierten Schichten / P. Zeppenfeld, 1989. - 166 S. - Текст : непосредственный.Ниматов С.Ж. ДМЭ исследование совершенства структуры поверхности при осаждении тонких слоев из низкоэнергетических ионных пучков : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / С. Ж. Ниматов, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.IBM Journal Research <& >Development. - Журнал, 1993г. т. 37 № 5. IBM Journal Research <& >Development. - Журнал, 1997г. т. 41 № 4/5. IBM Journal Research <& >Development. - Журнал, 1999г. т. 43 № 3.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный.Дважды дифференциальные спектры электронов отраженных от плоскопараллельных слоистонеоднородных поверхностей, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.
Определение рода адатомов и их положения на поверхности монокристалла путем прострела тонких пленок ионами в условиях каналирования / А.А.Джурахалов,Э.С.Парилис,А.М.Расулов и др., 1989. - 16 с. - Текст : непосредственный.Кольченко А.П. Метод лазерно-индуцированной флуоресценции молекулярного пучка для определения параметров зеркально-диффузной модели рассеяния атомных частиц твердой поверхностью / А.П.Кольченко,Г.Г.Телегин, 1989. - 18 c. - Текст : непосредственный.Нарбаев В.А. Роль поверхностных состояний позитрона и атомов позитрония в процессе эмиссии позитрония с поверхности твердого тела / В.А.Нарбаев, 1989. - 15 с. - Текст : непосредственный.Методы численного расчета взаимодействия ионов с поверхностью : препринт / К. А. Толпин [и др.], 2009. - 65 с. - Текст : непосредственный.Головко М.Ф. Система димеризацiйних твердих сфер бiля твердоi стiнки з граткою липких силових центрiв / М.Ф.Головко,Е.В.Вакарiн, 1994. - 17 c. - Текст : непосредственный.Физико-химические исследования поверхности твердых тел : Препринт, 1990. - 56 c. - Текст : непосредственный.Толох И.С. Туннельный перенос электрона между плоской кольцевой молекулой и поверхностью кристалла. Эффект ориентации / И.С.Толох, 1991. - 24 с. - Текст : непосредственный.Заставнюк В.В. Прицельно-столкновительная ионно-рассеивательная спектроскопия. Экспериментальные исследования, теоретические модели / В.В.Заставнюк,С.В.Теплов, 1990. - 35 с. - Текст : непосредственный.Паршин А.С. Объединенная научно-учебная лаборатория "Физика поверхности". Отчет о научной и научно-организационной деятельности в 1998-2000 гг. / А.С.Паршин, 2000. - 27 с. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽