Полное описание
Дианов, В. Н.
ГРНТИ УДК 47.13.81 681.518.5(043) 50.01.81 004.3.052.32(043)
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар03-5667)
Шифр в сводном ЭК: 31819ab196b0aff0e7eb02d1e084ea36
Дианов В.Н. Диагностика и надежность автоматических систем : учебное пособие / В. Н. Дианов, 2007. - 160 с. - Текст : непосредственный. Дианов В.Н. Автоматические и электронные системы транспортных средств повышенной надежности : учебное пособие / В. Н. Дианов, 2009. - 318 с. - Текст : непосредственный. Дианов В.Н. Методы и средства обнаружения и регистрации источников сбоев в системах и устройствах с кодо-импульсной модуляцией сигналов : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.13.05 / В. Н. Дианов, 2002. - 37 с. - Текст : непосредственный. Дианов В.Н. Надежность, диагностика, сбоеустойчивость автоматизированных систем : монография / В. Н. Дианов, 2018. - 811 с. - Текст : непосредственный. Дианов В.Н. Диагностика и надежность автоматических систем : Учеб. пособие / В.Н. Дианов, 2005. - 160 с. - Текст : непосредственный. Дианов В.Н. Диагностика и надежность автоматических систем : Учеб. пособие / В.Н.Дианов, 2004. - 160 с. - Текст : непосредственный. Дианов, В. Н. Перспективные автоматические и электронные системы транспортных средств : учеб. пособие. Ч. 1 : Микропроцессорная база перспективных систем автоэлектроники, 2004. - 92 с. - Текст : непосредственный. Дианов В.Н. Сбои в технических системах / В.Н.Дианов, 1999. - 69 с. - Текст : непосредственный. Дианов, В. Н. Микропроцессорные системы автотранспортных средств : Учеб.пособие. Ч. 2 : Применение микропроцессоров в автотранспортных средствах, 2000. - 84 с. - Текст : непосредственный. Дианов, В. Н. Микропроцессорные системы автотранспортных средств : Учеб.пособие. Ч. 1 : Основы проектирования МПС для управления, диагностики и контроля автотранспортных средств, 1999. - 90 с. - Текст : непосредственный. Дианов В.Н. Диагностика сбоев в электронной аппаратуре : монография / В. Н. Дианов, 2015. - 395 с. - Текст : непосредственный. Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный. Фролов А.Б. Модели и методы технической диагностики / А. Б. Фролов, 1990. - 47 с. - Текст : непосредственный. Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный. Зимнович Р.В. Программно-диагностический комплекс для управления состоянием многопараметрических технических объектов на основе методов семантического анализа : специальность 05.13.01 "Системный анализ,управление и обработка информации (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Р. В. Зимнович, 2007. - 27 с. - Текст : непосредственный. Бочкарев С.В. Диагностика и надежность автоматизированных систем / С. В. Бочкарев, А. И. Цаплин, 2006. - 262 с. - Текст : непосредственный. Сборник научных трудов. № 17 : Диагностика и прогнозирование состояния сложных систем, 2007. - 77 с. - Текст : непосредственный. Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный. Птицына Л.К. Модели и методы анализа вычислительных процессов при функциональном диагностировании динамических систем / Л. К. Птицына, В. В. Бородин, 1997. - 106 с. - Текст : непосредственный. Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. ISSTA'09 : материалы временных коллективов / International symposium on software testing & analysis (2009 ; Chicago, Il), 2009. - 1 o=электрон. опт. диск (CD-ROM). - Текст : электронный. Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный. Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный. Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный. Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный. Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный. Латышев А.В. Диагностирование непрерывных систем и цепей / А. В. Латышев, 1990. - 46 c. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Френкель С.Л. Вероятностный метод оценки полноты тестов контроля цифровых устройств : специальность 05.13.13 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн.наук / С. Л. Френкель, 1994. - 21 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Дианов В.Н. Методы и средства обнаружения и регистрации источников сбоев в системах и устройствах с кодо-импульсной модуляцией сигналов : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.13.05 / В. Н. Дианов, 2002. - 37 с. - Текст : непосредственный. Скобцов Ю.А. Исследование и разработка многозначных алфавитов и функций для моделирования и построения тестов дискретных устройств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.13.13 / Ю. А. Скобцов, 1993. - 43 с. - Текст : непосредственный. Мурашко И.А. Методы синтеза источников тестовых воздействий для самотестирования цифровых устройств на основе СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / И. А. Мурашко, 1996. - 19 с. - Текст : непосредственный. Саидов А.А. Исследование и разработка интерактивной системы моделирования цифровых устройств для диагностики : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.13 / А. А. Саидов, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный. Раков С.В. Автоматизированные методы верификации структуры и анализа тестов цифровых микропроцессорных устройств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / С. В. Раков, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный. Миронов С.В. Разработка методов сокращения диагностической информации : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.01.09 / С. В. Миронов, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный. Петрухнова Г.В. Разработка математического обеспечения специализированных систем контроля цифровых узлов на основе автоморфизмов тестовых последовательностей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.11 / Г. В. Петрухнова, 1999. - 16 с. - Текст : непосредственный. Никифоров С.Н. Разработка основ теории параллельного диагностирования дискретных объектов : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.12.04 / С. Н. Никифоров, 2007. - 25 с. - Текст : непосредственный. Попков К.А. О проверяющих и диагностических тестах для контактов и функциональных элементов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.01.09 / К. А. Попков, 2015. - 16 с. - Текст : непосредственный. Збиняков А.Н. Методика, специализированные устройства и способ диагностирования аппаратных средств вычислительной техники : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.05 / А. Н. Збиняков, 2002. - 20 с. - Текст : непосредственный. Петрова К.Ю. Синтез оптимальных тестовых сигналов для контроля и диагностики управляемых динамических систем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.13.01 / К. Ю. Петрова, 2002. - 18 с. - Текст : непосредственный. Юрлин С.В. Разработка специализированных прототипов на основе программируемой логики для эффективной функциональной верификации многоядерных микропроцессоров : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.05 / С. В. Юрлин, 2014. - 21 с. - Текст : непосредственный. Романов Д.С. Построение тестов и оценка их параметров для некоторых классов контактных схем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.01.09 / Д. С. Романов, 2000. - 14 с. - Текст : непосредственный. Вершинин Д.В. Диагностика текущего состояния сложных динамических объектов с использованием параметров имитационной модели : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.01 / Д. В. Вершинин, 2011. - 20 с. - Текст : непосредственный. Белоусов В.В. Автоматизированная система диагностирования дефектов расширенного класса в ТЭЗах цифровой аппаратуры : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05:05.13.13 / В. В. Белоусов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
