• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Гришаков, В. В. Моделирование влияния температурных режимов технологического процесса изготовления интегральных микросхем на их радиационную стойкость : автореф. дис. ... канд. техн. наук: 05.27.01 / В. В. Гришаков. - М., 2003. - 20 с. : ил. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.: с. 19-20(13 назв.)

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.77:539.16(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар04-4586)

    Шифр в сводном ЭК: cab90306f4b1664bc6dd17d274556a85



    Заказ фрагмента документа ₽