• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Попков, К. А. Короткие полные проверяющие тесты для схем из двухвходовых функциональных элементов / К. А. Попков. - Москва : ИПМ им. М. В. Келдыша РАН, 2018. - 24 с. : ил. - (Препринт / Институт прикладной математики имени М. В. Келдыша (Москва) ; 197 за 2018 г.). - Библиогр.: с. 23-24 (14 назв.). - 59 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    50.49681.5.04(04)
    28.19519.718.7(04)

    Рубрики:
    Автоматические системы -- Схемы

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/16400/197 за 2018 г.)

    Шифр в сводном ЭК: 6859208402c3c331a3b8a70c8226d594



    Заказ фрагмента документа ₽