Приложение
для AndroidПолное описание
Старовойтов, Д. А. Математические методы вычислительной диагностики изделий микроэлектроники : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-=мат.наук:05.13.16 / Д. А. Старовойтов. - М., 1992. - 15 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Рос.АН,ВЦ. Библиогр.: с. 14-15(9назв.).
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33.37 | 621.3.049.76.001.4(043) |
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР92-4021)
Шифр в сводном ЭК: 322081821d3d01c3f39f99309d69db05
Полупроводниковая микроэлектроника : сборник научных трудов / Новосибирский электротехнический ин-т, 1989. - 113,5 c. c. - Текст : непосредственный.Зотов А.А. Физические основы устройств функциональной электроники / А. А. Зотов, Т. И. Чернышова, В. Н. Чернышов, 1993. - 208 c. - Текст : непосредственный.Наноэлектроника, нанофотоника и нелинейная физика : материалы временных коллективов, 2014. - 240 с. - Текст : непосредственный.Щука А. А. Наноэлектроника / А. А. Щука, 2007. - 463 с. - Текст : непосредственный.Основы электротехники, микроэлектроники и управления. Теория и расчет : учеб. пособие: в 2 т. / Ю. А. Комиссаров [и др.] ; ред. П. Д. Саркисов. Т. 1, 2007. - 450 с. - Текст : непосредственный.Основы электротехники, микроэлектроники и управления. Теория и расчет : учеб. пособие: в 2 т. / Ю. А. Комиссаров [и др.] ; ред. П. Д. Саркисов. Т. 2, 2007. - 310 с. - Текст : непосредственный.The second international workshop on surfaces..,Hawaii,7-12 Dec.1997 / Workshop on surfaces and interfaces of mesoscopic devices (2nd ; 1997 ; Hawaii) , 1998. - 183 p. - Текст : непосредственный.Очерки истории российской электроники. Вып. 5 : 50 лет отечественной микроэлектронике. Краткие основы и история развития / Б. М. Малашевич, 2013. - 799 с. - Текст : непосредственный.Орлова М.Н. Наноэлектроника : выставочные материалы / М. Н. Орлова, И. В. Борзых, 2013. - 49 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.Micro-and nanoengineering 95 : материалы временных коллективов / Ed. J. Perrocheau, 1996. - XVIII,626 p. p. - Текст : непосредственный.Гетеромагнитная микроэлектроника : Сб. науч. тр. / Рос. агентство по системам упр. Вып. 10 : Гетеромагнитная микро- и наноэлектроника. Прикладные аспекты. Экономика. Методические аспекты физического образования / под ред. А. В. Ляшенко, 2011. - 147 с. - Текст : непосредственный.Ефимов И.Е. Основы микроэлектроники : учебное пособие / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь, 2008. - 384 с. - Текст : непосредственный.Комаров А.С. Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) / А. С. Комаров, Д. В. Крапухин, Е. И. Шульгин ; Ред. П. П. Мальцев, 2014. - 239 с. - Текст : непосредственный.Бобров И.И. Физические основы микроэлектроники : Курс лекций. Ч. 1, 1995. - 81 с. - Текст : непосредственный.Беседина К.Н. Разработка методов управляемого формирования и исследование тонкопленочных опаловых наноструктур / К. Н. Беседина, 2014. - 16 с. - Текст : непосредственный.Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics . - Журнал выходит с 2006г.Субмикронные технологии : сборник научных трудов / Ред. В. Н. Репин, 1995. - 79 c. - Текст : непосредственный.Физико-химические основы микроэлектроники. Процессы получения пленок / В. Г. Нефедов, О. Б. Гусев, Ю. С. Кулешов, О. В. Шакин, 1991. - 66 с. - Текст : непосредственный.Микроэлектроника и информатика-2001 : сборник, 2001. - 336 с. - Текст : непосредственный.physics and fabrication of microstructures and microdevices : материалы временных коллективов / Ed.: M. J. Kelly, C. Weisbuch, 1986. - XI,469 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыМарущенко С.Г. Исследование методов и разработка алгоритмов обработки электронно-микроскопических изображений с целью диагностики микроэлектронных приборов : специальность 05.27.07 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / С. Г. Марущенко, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный.Старовойтов Д.А. Математические методы вычислительной диагностики изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-=мат.наук:05.13.16 / Д. А. Старовойтов, 1992. - 15 с. - Текст : непосредственный.Чукалина М.В. Реконструкция микрорельефа поверхности и состава приповерхностных слоев объектов микроэлектроники по рентгенофлуоресцентному сигналу : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук:05.27.01 / М. В. Чукалина, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Матвеев В.М. Резонансная рентгеновская магнитооптика редкоземельных слоистых наноструктур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:05.27.01 / В. М. Матвеев, 1996. - 52 с. - Текст : непосредственный.Щапова И.А. Эллипсометрический метод контроля параметров сложных диэлектрических структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / И. А. Щапова, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽