Приложение
для AndroidПолное описание
Тихомиров, В. Л. Надежность электронной аппаратуры / В. Л. Тихомиров, А. М. Широков ; Минское высшее инженерное радиотехническое училище войск ПВО страны. - Минск : [б. и.], 1964. - 105 с. : ил. - Библиогр.: с. 104 (20 назв.). - Тираж не указ. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33 | 621.384.019.3 |
Рубрики:
Электронные приборы -- Надежность
Доп. точки доступа:
Широков, А.М.
Минское высшее инженерное радиотехническое училище противовоздушной обороны
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д/28643)
Шифр в сводном ЭК: a5484bce7faaee796780c84c2529a702
Тихомиров В.Л. Надежность электронной аппаратуры / В. Л. Тихомиров, А. М. Широков, 1964. - 105 с. - Текст : непосредственный.Мазур И.А. Резонансное и нерезонансное рассеяние в микроскопических подходах. Метод SS-HORSE : [монография] / И. А. Мазур, А. И. Мазур, А. М. Широков, 2017. - 148 с. - Текст : непосредственный.Гуцалюк А.И. Комплексные испытания сложных электронных систем на надежность / А.И.Гуцалюк,В.Л.Тихомиров, 1991. - 35 c. - Текст : непосредственный.
Куртев Н.Д. Электронные цепи и устройства / Н. Д. Куртев, В. И. Нефедов, 1990. - 53 с. - Текст : непосредственный.Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный.Физика и техника полупроводников / Российская академия наук, Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). - Журнал выходит с 1967г. - Текст : непосредственный.Цырлин Г.Э. Эффекты самоорганизации наноструктур на поверхности полупроводников при молекулярно-пучковой эпитаксии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики", 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Г. Э. Цырлин, 2001. - 41 с. - Текст : непосредственный.Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Воскресенский В.В. Применение туннельных диодов в импульсной технике, 1974. - 120 с. - Текст : непосредственный.Полупроводниковая микроэлектроника : сборник научных трудов / Новосибирский электротехнический ин-т, 1989. - 113,5 c. c. - Текст : непосредственный.Лазерная и оптико-электронная техника : сборник научных трудов / Белорусский ун-т им. В. И. Ленина (Минск), 1989. - 215 c. - Текст : непосредственный.Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Кравченко А.Ф. Магнитная электроника / А. Ф. Кравченко ; Ред. И. Г. Неизвестный, 2002. - 398 с. - Текст : непосредственный.Зотов А.А. Физические основы устройств функциональной электроники / А. А. Зотов, Т. И. Чернышова, В. Н. Чернышов, 1993. - 208 c. - Текст : непосредственный.Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный.Хилько А.Ю. Рост из молекулярных пучков и свойства гетероструктур с эпитаксиальными слоями фторида кадмия : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Ю. Хилько, 1998. - 26 с. - Текст : непосредственный.Наноэлектроника, нанофотоника и нелинейная физика : материалы временных коллективов, 2014. - 240 с. - Текст : непосредственный.Петров П.В. Исследование A+ центров в двумерных структурах на основе GaAs : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. В. Петров, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Щука А. А. Наноэлектроника / А. А. Щука, 2007. - 463 с. - Текст : непосредственный.Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный.Пигулев Р. В. Получение и исследование многокомпонентных гетероструктур на основе твердых растворов А111ВV / Р. В. Пигулев, 2007. - 21 с. - Текст : непосредственный.Основы электротехники, микроэлектроники и управления. Теория и расчет : учеб. пособие: в 2 т. / Ю. А. Комиссаров [и др.] ; ред. П. Д. Саркисов. Т. 1, 2007. - 450 с. - Текст : непосредственный.Основы электротехники, микроэлектроники и управления. Теория и расчет : учеб. пособие: в 2 т. / Ю. А. Комиссаров [и др.] ; ред. П. Д. Саркисов. Т. 2, 2007. - 310 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыПакет прикладных программ для оценки надежности электронных систем при проектировании и испытаниях : методический материал / Институт технической кибернетики (Минск), 1992. - 36 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 14(1580) : Физико-статистические методы исследования надежности электронных приборов : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1950-1990 гг. / С.Я.Гродзенский, 1990. - 43 с. - Текст : непосредственный.Основы теории надежности электронных средств : выставочные материалы / Н. К. Юрков, А. В. Затылкин, С. Н. Полесский [и др.], 2012. - 99 с. - Текст : непосредственный.Чеканов А.Н. Расчеты и обеспечение надежности электронной аппаратуры : выставочные материалы / А. Н. Чеканов, 2012. - 437 с. - Текст : электронный.
Захаров Ю.В. Качество и надежность электронных средств : учебное пособие / Ю. В. Захаров, 2018. - 162 с. - Текст : непосредственный.Тихомиров В.Л. Надежность электронной аппаратуры / В. Л. Тихомиров, А. М. Широков, 1964. - 105 с. - Текст : непосредственный.Pacific Rim international symposium on fault tolerant systems,Sept.26-27,Kawasaki,1991 : Proc. / PRFTS'91, 1991. - 259 p. - Текст : непосредственный.Баранова А.В. Теоретические основы конструирования надежности электронных средств : учебно-методическое пособие / А. В. Баранова, 2018. - 82 с. - Текст : непосредственный.Сорокин А.А. Оценка показателей надежности электронных устройств и систем : учеб. пособие / А. А. Сорокин, Н. В. Сотникова, Д. А. Хромихин, 2016. - 108 с. - Текст : непосредственный.Кормилицын О.П. Расчет прочности конструкций на ЭВМ : Учеб.пособие / О.П.Кормилицын, 1996. - 104 с. - Текст : непосредственный.Основы конструирования и надежности электронных средств : учеб.-метод. комплекс / "Горный", нац. минерально-сырьевой ун-т, 2013. - 165 с. - Текст : непосредственный.Журавлев В.М. Машинная оценка стойкости электронных приборов / В. М. Журавлев, В. В. Григорьев, С. Ц. Манжикова, 1991. - 281 с. - Текст : непосредственный.Кормилицын О.П. Прочность конструкций изделий электронной техники : Учеб.пособие для вузов по направлениям "Приклад.механика","Электроника и микроэлектроника" / О.П.Кормилицын, 1997. - 128 с. - Текст : непосредственный.Теоретические основы надежности электронной аппаратуры : учеб. пособие / В. П. Ларин [и др.], 2012. - 155 с. - Текст : непосредственный.Осташев В.Е. Сверхширокополосное излучение и угроза его воздействия на электронные технические средства / В. Е. Осташев, А. В. Ульянов, 2018. - 119 с. - Текст : непосредственный.Баранова А.В. Основы надежности электронных средств : учеб. пособие / А. В. Баранова, Н. П. Ямпурин, 2009. - 150 с. - Текст : непосредственный.Szeloch R.F. Statystyczne i termiczne problemy niezawodnosci elementow elektronicznych / R.F.Szeloch, 1997. - 160 s. - Текст : непосредственный.Захаров Ю.В. Управление качеством и надежность электронных средств : Учеб.пособие / Ю.В.Захаров, 2002. - 80 с. - Текст : непосредственный.Хадыкин А.М. Основы надежности электронных средств : Учеб. пособие / А.М. Хадыкин, Н.В. Рубан, 2005. - 81 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания