• ВХОД
  •  

    Полное описание

    International test conference (1991 ; Nashville,TN). International test conference,Oct.26-30,1991,Nashville(TN):Proc. / ITC. - Los Alamitos, Ca : IEEE computer soc. press, 1991. - XIV,1135 p. p. : ill. - (IEEE publications / Inst.of electrical and electronics engineers, ISSN 0149-144X ; 91CH3032-0). - ISBN 0-8186-9156-5. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце статей.Указ.:с.:1133-1135

    ГРНТИ УДК
    47.3.81621.384.001.4(063)
    47.01.13

    Рубрики:
    Электронные приборы -- Испытание -- Съезды и конференции

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/6736/91CH3032-0)

    Шифр в сводном ЭК: 609ae2f698e8447eea5211a651466b91



    Заказ фрагмента документа ₽