Приложение
для AndroidПолное описание
Метрология в радиоэлектронике : материалы XI Всероссийской научно-технической конференции, Менделеево, 19-21 июня 2018 г. : в 2 т. . - Менделеево : ВНИИФТРИ, 2018 - . - Текст : непосредственный.
Т. 2. - 2018. - 301 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 500 экз. - ISBN 978-5-903232-71-0
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.01.81 | 621.37/.39:006.91(062) |
Рубрики:
Радиоэлектроника -- Метрологическое обеспечение -- Съезды и конференции
Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/21508/2)
Шифр в сводном ЭК: 23da00af2ffec373a5914952ee62af2c
Метрология в радиоэлектронике : тез. докл. X Всерос. науч.-техн. конф., Менделеево, 20-22 июня 2016 г. / Всерос. науч.-исслед. ин-т физ.-техн. и радиотехн. измерений, 2016. - 392 с. - Текст : непосредственный.Метрология в радиоэлектронике : материалы XII Всероссийской научно-технической конференции, Менделеево, 21-23 сентября 2021 г. / ВНИИФТРИ, 2021. - 326 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Метрология в радиоэлектронике : материалы XIII Всероссийской научно-технической конференции, Менделеево, 20-22 июня 2023 г. / ВНИИФТРИ, 2023. - 450 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Метрология в радиоэлектронике : материалы XIV Всероссийской научно-практической конференции, Нижний Новгород, 17-19 июня 2025 г. / ВНИИФТРИ, 2025. - 389 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный.Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный.Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный.Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный.Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный.Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный.Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный.Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный.Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный.Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный.Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный.Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный.Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный.Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Метрология в радиоэлектронике : материалы XI Всероссийской научно-технической конференции, Менделеево, 19-21 июня 2018 г. : в 2 т. . Т. 1, 2018. - 231 с. - Текст : непосредственный.Метрология в радиоэлектронике : материалы XI Всероссийской научно-технической конференции, Менделеево, 19-21 июня 2018 г. : в 2 т. . Т. 2, 2018. - 301 с. - Текст : непосредственный.IX Всероссийская научно-техническая конференция "Метрология в радиоэлектронике" : 17-19 июня 2014 г., Менделеево Моск. обл.: тез. докл. / "Метрология в радиоэлектронике", всероссийская науч.-техническая конф. (9; 2014; пос. Менделеево (Моск. обл.)), 2014. - 325 с. - Текст : непосредственный.VIII научно-техническая конференция "Метрология в радиоэлектронике" : 24-26 октября: материалы конф. / "Метрология в радиоэлектронике", научно-техническая конф. (8; 2006; Москва), 2006. - 128 с. - Текст : непосредственный.Метрология в радиоэлектронике : тез. докл. X Всерос. науч.-техн. конф., Менделеево, 20-22 июня 2016 г. / Всерос. науч.-исслед. ин-т физ.-техн. и радиотехн. измерений, 2016. - 392 с. - Текст : непосредственный.Метрология в радиоэлектронике : материалы XII Всероссийской научно-технической конференции, Менделеево, 21-23 сентября 2021 г. / ВНИИФТРИ, 2021. - 326 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Метрология в радиоэлектронике : материалы XIII Всероссийской научно-технической конференции, Менделеево, 20-22 июня 2023 г. / ВНИИФТРИ, 2023. - 450 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Метрология в радиоэлектронике : материалы XIV Всероссийской научно-практической конференции, Нижний Новгород, 17-19 июня 2025 г. / ВНИИФТРИ, 2025. - 389 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽