Приложение
для AndroidПолное описание
Андреева, В. Д. Рентгенография и электронная микроскопия. Электронная микроскопия материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, И. И. Горшков ; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. - Санкт-Петербург : Изд-во Политехн. ун-та, 2017. - 142 с. : ил. - Библиогр.: с. 139. - 100 экз. - ISBN 978-5-7422-5879-7. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.19.21 | 548.7 |
Рубрики:
Рентгеноструктурный анализ
Электронография
Микроскопия электронная
Доп. точки доступа:
Горшков, И.И.
Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-17/50714)
Шифр в сводном ЭК: 1af75d24c3bf43ad000cd2c21713ae3d
Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный.Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : выставочные материалы / И. И. Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Рентгенография и электронная микроскопия. Электронная микроскопия материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, И. И. Горшков, 2017. - 142 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Основы рентгеновского анализа материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, 2019. - 84 с. - Текст : непосредственный.Новиков Е.В. Физика металлов. Физические методы исследований : учеб. пособие / Е. В. Новиков, О. В. Толочко, В. Д. Андреева, 2010. - 188 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Методы анализа. Рентгеноструктурный анализ : Учеб. пособие / В. Д. Андреева, М. И. Анисимов, Е. В. Новиков, 2004. - 97 с. - Текст : непосредственный.Рентгенография и электронная микроскопия материалов : учеб. пособие / В. Д. Андреева [и др.], 2008. - 180 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Плазменные керамические покрытия как носители нейтрализаторов отработанных газов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.18.06 / В. Д. Андреева, 1995. - 16 с. - Текст : непосредственный.Сергеев Ю.Г. Физические методы контроля качества материалов и продукции : Учеб.пособие / Ю. Г. Сергеев, Н. А. Столярова, И. И. Горшков, 1998. - 51 с. - Текст : непосредственный.
Планирование финансово-хозяйственной деятельности университета: теоретические аспекты, методические подходы и практика реализации / Е. Б. Виноградова, Н. В. Иванова, И. Н. Томшинская [и др.], 2017. - 126 с. - Текст : непосредственный.Кривцов А.М. Механика дискретных сред. Переходные тепловые процессы в гармонических кристаллах : учебное пособие / А. М. Кривцов, В. А. Кузькин, 2017. - 93 с. - Текст : непосредственный.Ролле В.Е. Конструирование и расчет автомобилей и тракторов. Эскизное проектирование ходовой части автомобиля / В. Е. Ролле, А. Г. Семенов, 2017. - 687 с. - Текст : непосредственный.Материаловедение : учебное пособие / М. А. Жукова, Н. Б. Кириллов, А. П. Петкова, М. В. Яковицкая ; ред. Н. Б. Кириллова, 2017. - 114 с. - Текст : электронный.Тутыгин В.С. Цифровая обработка сигналов : монография / В. С. Тутыгин, 2017. - 164 с. - Текст : непосредственный.Писарев О.А. Фракционирование биологически активных веществ. Аналитические и препаративные методы : учебное пособие / О. А. Писарев, И. В. Полякова, 2017. - 191 с. - Текст : непосредственный.Инженерное обеспечение строительства. Геодезия : учебное пособие / Н. Д. Беляев, А. В. Ковязин, А. А. Кузин [и др.], 2017. - 54 с. - Текст : непосредственный.Глухов В.В. Организационное поведение : учебное пособие / В. В. Глухов, А. А. Яковлев, 2017. - 484 с. - Текст : непосредственный.Биофизические и биохимические методы экспериментальной нейробиологии: современные представления : учебное пособие / Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Ч. 1 / Е. И. Пчицкая [и др.], 2017. - 70 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Рентгенография и электронная микроскопия. Электронная микроскопия материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, И. И. Горшков, 2017. - 142 с. - Текст : непосредственный.Бухарцев В.Н. Водосливная плотина в составе низконапорного транспортно-энергетического гидроузла : учебное пособие / В. Н. Бухарцев, И. Того, И. Е. Фролова, 2017. - 69 с. - Текст : непосредственный.Виноградов Е.Л. Физические основы контактной и бесконтактной печати / Е. Л. Виноградов, В. В. Ваганов, 2017. - 244 с. - Текст : непосредственный.Положинцев Б.И. Теория вероятностей и математическая статистика. Вероятностные модели, основы статистического анализа данных : учебное пособие / Б. И. Положинцев, 2018. - 205 с. - Текст : непосредственный.Радаев А.Е. Имитационное моделирование производственных систем : учебное пособие / А. Е. Радаев, В. В. Кобзев, 2017. - 167 с. - Текст : непосредственный.Худорожков С.И. Теория и системы автоматического управления : учебное пособие / С. И. Худорожков, 2018. - 217 с. - Текст : непосредственный.Паромов В.В. Физические основы прочности и пластичности металлов. Изучение текстур металлических листов методом прямых полюсных фигур : учебное пособие / В. В. Паромов, 2018. - 36 с. - Текст : непосредственный.Ролле В.Е. Теория движения наземных транспортных средств. Расчет плавности хода гусеничных машин / В. Е. Ролле, А. Г. Семенов, 2018. - 151 с. - Текст : непосредственный.Радаев А.Е. Организация производства на предприятиях отрасли. Имитационное моделирование производственных систем. Лабораторный практикум : учебное пособие. Ч. 1, 2018. - 157 с. - Текст : непосредственный.Виноградов Е.Л. Оборудование и технологии печати. Прогрессивные полиграфические технологии : учебное пособие / Е. Л. Виноградов, В. В. Ваганов, 2018. - 94 с. - Текст : непосредственный.Сениченков Ю.Б. Математическое моделирование сложных динамических систем : учебное пособие / Ю. Б. Сениченков, Н. Б. Ампилова, Е. Л. Тимофеев, 2018. - 108 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРябов В.А. Эффект каналирования / В. А. Рябов, 1994. - 240 c. - Текст : непосредственный.Сафин Н.В. Моделирование траекторий быстрых протонов и ядер в прямых и изогнутых кристаллах : специальность 05.13.18 "Математическое моделирование,численные методы и комплексы программ" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Н. В. Сафин, 2006. - 25 с. - Текст : непосредственный.Sigmund P. Particle penetration and radiation effects / P. Sigmund, 2006 r=on-line. - Текст : электронный.Behrisch R. Sputtering by particle bombardment / R. Behrisch, W. Eckstein, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Стысин А.В. Резонансное когерентное возбуждение релятивистских ионов при прохождении через ориентированные кристаллы вне условий каналирования : специальность 01.04.16 "Физика атомного ядра и элементарных частиц" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. В. Стысин, 2009. - 14 с. - Текст : непосредственный.Applicability of cascade-evaporation to the calculation of radiation damages due to ions with energies T 1 GeV / V. S. Baraschenkov, A. Polanski, A. N. Sosnin, S. Yu. Shmakov, 1991. - 6 p. - Текст : непосредственный.Троицкий О.А. Радиация и прочность твердых тел, 1973. - 116 с. - Текст : непосредственный.Таратин А.М. Dechanneling of relativistic protons and nuclei in straight and bent crystals. Rechanneling role / А. М. Таратин, 1997. - 7 p. - Текст : непосредственный.Воскобойников Р.Е. Особенности кинетики структурно-фазовых превращений под облучением и изменение физико-механических свойств твердых тел : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Р. Е. Воскобойников, 2000. - 21 с. - Текст : непосредственный.Сугаков В.И. Трехмерные диссипативные структуры дефектов в кристаллах под облучением / В. И. Сугаков, Нгуен Тхи Тхань Хионг, 1992. - 8 с. - Текст : непосредственный.Взаимодействие ионов с поверхностью : ВИП-14:Материалы 14-й Междунар.конф.,30 авг.-3 сент.1999 г.,Звенигород / Российская академия наук. Научный совет по физике плазмы. Т. 1, 1999. - 384 с. - Текст : непосредственный.Взаимодействие ионов с поверхностью : ВИП-14:Материалы 14-й Междунар.конф.,30 авг.-3 сент.1999 г.,Звенигород / Российская академия наук. Научный совет по физике плазмы. Т. 2, 1999. - 360 с. - Текст : непосредственный.Басков В.А. Режекция по направлению частиц, прошедших ориентированный кристалл / В. А. Басков, В. В. Ким, В. А. Хабло. - 15 с. - Текст : непосредственный.Страховенко В.М. Constructive method for calculation of photon emission and pair production probabilities in crystals / В. М. Страховенко, 1997. - 19 p. - Текст : непосредственный.Назаров Э.Г. Диссоциативная поверхностная ионизация молекул в стационарных и нестационарных условиях : специальность 01.04.04 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени / Э. Г. Назаров, 1992. - 63 с. - Текст : непосредственный.Сборник задач по теории переноса, дозиметрии и защите от ионизирующих излучений : выставочные материалы / А. А. Званцев, В. А. Климанов, А. И. Ксенофонтов [и др.], 2011. - 193 с. - Текст : непосредственный.Байер В.Н. Quantum effects in channeling radiation / В. Н. Байер, V. M. Katkov, V. M. Strakhovenko, 1991. - 20 p. - Текст : непосредственный.Взаимодействие ионов с поверхностью : ВИП-2001:Материалы 15-ой междунар.конф.,27-31 авг.2001 г.,Звенигород. Т. 2, 2001. - 425 с. - Текст : непосредственный.Зырянов С.С. Анализ и модификация поверхности твердых тел с использованием пучков ускоренных заряженных частиц / С. С. Зырянов, 2014. - 24 с. - Текст : непосредственный.Первые результаты исследования фокусировки пучка протонов с энергией 70 ГэВ изогнутым монокристаллом / М. А. Гордеева, М. П. Нурьев, А. С. Денисов, 1991. - 4 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыПунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный.Вековой путь дифракции рентгеновских лучей : сборник / Российская Академия Наук. Сибирское отделение, 2012. - 172 с. - Текст : непосредственный.Работы по комплексной рентгеновской диагностике материалов на станции "структурное материаловедение" курчатовского источника синхротронного излучения в 2007 году / А. А. Велигжанин, Е. В. Гусева, С. Н. Заглубоцкий [и др.], 2008. - 58 с. - Текст : непосредственный.Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный.Кацнельсон А.А. Рассеяние рентгеновских лучей конденсированными средами / А. А. Кацнельсон, 1991. - 96 c. - Текст : непосредственный.Stanglmeier F. Bestimmung der dispersiven Korrektur f'(E) zum Atomformfaktor aus der Totalreflexion von Rontgenstrahlen / F. Stanglmeier, 1990. - 151 S. - Текст : непосредственный.Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный.Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный.Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный.Baryshevsky V.G. Parametric x-ray radiation in crystals / V. G. Baryshevsky, I. D. Feranchuk, A. P. Ulyanenkov, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineMathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный.Структурные исследования кристаллов : сборник / Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (Москва), 1996. - 491 c. - Текст : непосредственный.Gamma-ray Diffractometer at the ET-RR-1 Reactor for Material Science Research / A. I. Kurbakov, R. M. Maayouf, A. E. Sokolov, 1994. - 22 p. - Текст : непосредственный.Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный.Рабаданов М.Х. Прецизионные структурные исследования, тепловые колебания атомов и физические свойства кристаллов : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / М. Х. Рабаданов, 2004. - 42 с. - Текст : непосредственный.Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный.Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный.Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный.Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный.Нейтронный дифрактометр по времени пролета на импульсном бустере ИБР-30 / А. М. Балагуров, А. А. Никитин, В. Е. Новожилов, 1991. - 12 с. - Текст : непосредственный.Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ: основные представления о методах исследования структуры конденсированных сред / А. Н. Бабушкин, 2002. - 103 с. - Текст : непосредственный.Методы исследования текстур в материалах : выставочные материалы / М. Л. Лобанов, А. С. Юровских, Н. И. Кардонина, Г. М. Русаков ; ред. А. А. Попов, 2014. - 113 с. - Текст : непосредственный.Карасев П.А. Особенности рассеяния быстрых электронов на тепловых колебаниях при прохождении через тонкие кристаллы : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников", 01.04.04 "Физическая электроника" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. А. Карасев, 2000. - 17 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Рентгеноструктурные исследования модулированных фаз в монокристаллах К (NbO)[Si O],BaAl Si O ,H O, Ba Ti O и Na TiP O : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Н. Б. Болотина, 1995. - 25 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽