Полное описание
Гусаров, В. Ф.
ГРНТИ УДК 59.14.23 681.786(043)
Кл.слова (ненормированные): ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЙ КОНТРОЛЬ -- ПРОСТРАНСТВЕННОЕ ПОЛОЖЕНИЕ ОБЪЕКТОВ
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар17-4612)
Шифр в сводном ЭК: d82cbb9de59eab9ee29a5bff5d5cd157
Егорова О.В. Методы оценки технологичности и контроля качества оптических систем нового поколения объективов микроскопа : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн.наук / О. В. Егорова, 1995. - 18 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Гусаров В.Ф. Исследование и разработка оптико-электронной системы контроля пространственного положения на базе полихроматической оптической равносигнальной зоны при цифровой обработке информации / В. Ф. Гусаров, 2017. - 18 с. - Текст : непосредственный. Сиротский А.А. Проектирование позиционных лазерных измерительных систем / А. А. Сиротский, 2013. - 144 с. - Текст : непосредственный. Суранов А.Я. Разработка и исследование устройств фотометрирования на базе многоэлементных фотоприемников для систем контроля параметров изделий и технологических процессов с помощью методов дифрактометрии и спектрометрии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / А. Я. Суранов, 1997. - 23 с. - Текст : непосредственный. Uhde H.-M. Chromatische Hohenbestimmung mit dem konfokalen Mikroskop : Diss. / H.-M.Uhde, 1992. - 154 S. - Текст : непосредственный. Богатинский Е.М. Исследование и разработка оптико-электронных систем с планарной оптической равносигнальной зоной для контроля и управления пространственным положением объектов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.11.07 / Е. М. Богатинский, 2010. - 16 с. - Текст : непосредственный. Тарасов В.В. Лазерные сканирующие системы контроля геометрических параметров изделий массового производства : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.11.07 / В. В. Тарасов, 1998. - 45 с. - Текст : непосредственный. Лазеры в измерительной технике : Отеч.и иностр.лит.за 1989-1991 гг. / Сост.И. В.Беляева, 1992. - 332 с. - Текст : непосредственный. Быков В.А. Нанодиагностика и зондовая микроскопия в исследованиях новых материалов / В. А. Быков. - Текст : непосредственный // Нанотехнологии и наноматериалы : материалы III междунар. науч.-техн. конф. - М. : Изд-во МГОУ, 2012. - с. 11-16. Левченко Т.В. Рефлектометр для экспресс-контроля шероховатости поверхностей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / Т. В. Левченко, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный. Мещеряков Ю.Ю. Использование глубоких нейронных сетей на ПЛИС в приборе ночного видения для колоризации изображения / Ю. Ю. Мещеряков. - Текст : непосредственный // Студент и наука : научный журнал / Воронежский государственный технический университет. - Воронеж : ВГТУ, 2021. - N 4. - с. 29-33 Давыдов, Владимир Борисович. Разработка и проектирование лазерных измерительных приборов и систем : учебно-методическое пособие / В. Б. Давыдов, Е. М. Иващенко, Р. А. Ларичев, 2023. - 50 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
