Полное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
Радиотехника, электроника и связь : материалы временных коллективов / "Высокие технологии - основа инновационного развития экономики регионов России", форум (2011 ; Омск), 2011. - 547 с. - Текст : непосредственный.Научная сессия ТУСУР - 2007 : материалы докл. Всерос. науч.-техн. конф. студентов, аспирантов и мол. ученых, 3 - 7 мая 2007 г. : в 5-ти ч. Ч. 4, 2007. - 377 с. - Текст : непосредственный.XLIX Научная сессия, посвященная дню радио : Тез докл. Ч. 1, 1994. - 162 с. - Текст : непосредственный.XLIX Научная сессия, посвященная дню радио : Тез докл. Ч. 2, 1994. - 160 с. - Текст : непосредственный.Международная конференция "100-летие начала .. .50-я Научная сессия, посвященная дню радио : Тез.докл. Ч. 1, 1995. - 232 с. - Текст : непосредственный.Международная конференция "100-летие начала .. .50-я Научная сессия, посвященная дню радио : Тез.докл. Ч. 2, 1995. - 328 с. - Текст : непосредственный.Радиотехника и кибернетика : материалы временных коллективов, 2013. - 212 с. - Текст : непосредственный.Forty-seventh annual gaseos electronics conference,Gaithersburg(Md),Oct.18-21,1994 / Gaseous electronics conference (47 ; 1994 ; Gaithersburg,Md) , 1995. - 327-520 p. p. - Текст : непосредственный.Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы временных коллективов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный.Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный.Юбилейная 50 научно-техническая конференция : 10-18 мая 2001 г.: Прогр.,Тез.докл. Ч. 1, 2001. - 124 с. - Текст : непосредственный.Юбилейная 50 научно-техническая конференция : 10-18 мая 2001 г.: Прогр.,Тез.докл. Ч. 2, 2001. - 128 с. - Текст : непосредственный.Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный.Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный.Материалы московской конференции : В 4-х ч. Ч. 3 : Автоматика и электроника, 1995. - 132 с. - Текст : непосредственный.Актуальные вопросы механики, электроники, физики Земли и нейтронных методов исследований : материалы временных коллективов / Стерлитамакский гос. пед. ин-т, 1997. - 127 с. - Текст : непосредственный.Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыNew frontiers in testing : материалы временных коллективов, 1988. - xxx,1005 p. p. - Текст : непосредственный.
International test conference,Oct.26-30,1991,Nashville(TN):Proc. / ITC, 1991. - XIV,1135 p. p. - Текст : непосредственный.First Asian test symposium,Nov.26-27,1992,Hiroshima : Proc. / ATS'92, 1992. - X,259 p. p. - Текст : непосредственный.Design, automation and test in Europe : Conference and exhibition, Munich, March 13-16, 2001: Proc. / Ed. W. Nebel, 2001. - XXXVI, 829 p. 829 p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the seventh international on-line testing workshop, 9-11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy / IOLTW 2001, 2001. - XI,228 p. p. - Текст : непосредственный.Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 3 : Вопросы автоматизации контрольно-диагностических процедур, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный.Integration of test with desigh and manufacturing : Intern.test conf.Sept.1-3,1987,Washington(DC):Proc. / ITC, 1987. - XXXI,1151 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the IEEE European test workshop, ETW 2001, 29 May - June 2001, Stockholm, Sweden / Spons. by IEEE Computer soc. test technology council (TTTC) Link@:oping univ. (LiU), 2001. - XII,147 p. p. - Текст : непосредственный.Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 3rd Europ.conf.on electron and optical beam testing of electronic devices,Sept.1-3,1993,Zurich / ed. A. Birolini, 1994. - XIII,442 p. p. - Текст : непосредственный.Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 5th European conf.on electron..Aug.27-30,1995,Wuppertal,Germany / ed. E. Wolfgang, 1996. - XII,432 p. p. - Текст : непосредственный.Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 1 : Методы и средства диагностирования цифровых устройств, 1990. - 61 c. - Текст : непосредственный.2nd European test conference Munich,Apr.10-12,1991 : Proc. / ETC'91, 1991. - 532 p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the international test conference,Washington,sept.1990 / ITC, 1990. - XIV,1083 p. мкф. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
Заказ фрагмента документа ₽