Полное описание
Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов. - М. : МЭИ, 2007 (М.). - 199 с. : ил. - Библиогр.: с. 196-199. - 300 экз. - ISBN 978-5-383-00070-0. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.35.43 621.385.833.2
Рубрики: Микроскопы электронные
Доп. точки доступа: Нестеров, С.Б.
Логинов, Б.А.
Зилова, О.С.
Сабирзянов, Н. Р.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-07/38407)
Шифр в сводном ЭК: 1e09468c9551452db7141bd34dce5fdc
Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Перспективы создания высокоэффективных термоэлектрических материалов из нанопорошков / В. Н. Абрютин, С. Б. Нестеров, В. А. Романько, А. И. Холопкин, 2010. - 102 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Вакуумно-левитационные транспортные системы: научная основа, технологии и перспективы для железнодорожного транспорта : монография / "Российские ж. д.", открытое акционерное о-во, 2017. - 189 с. - Текст : непосредственный. Контроль герметичности изделий космической отрасли / С. В. Кравченко [и др.], 2012. - 157 с. - Текст : непосредственный. Нестеров С.Б. Расчет сложных вакуумных систем : Учеб. пособие / С. Б. Нестеров, Ю. К. Васильев, А. В. Андросов, 2001. - 180 с. - Текст : непосредственный. Логинов Б.А. Удивительный мир фторполимеров / Б. А. Логинов, 2008. - 126 с. - Текст : непосредственный. Нестеров С.Б. Криосорбция изотопов гелия. Физические особенности и практические приложения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:01.04.09 / С. Б. Нестеров, 2000. - 40 с. - Текст : непосредственный. Нестеров С.Б. Вакуумная техника. Англо-русский и русско-английский словарь по вакуумной технике / С. Б. Нестеров, Е. В. Беляева, 2015. - 263 с. - Текст : непосредственный. Нестеров С.Б. Вакуумная техника. Библиография. Терминология. Транслитерация. Даты / С. Б. Нестеров, Е. В. Беляева, 2014. - 146 с. - Текст : непосредственный. Нестеров С.Б. Низкотемпературные системы откачки : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлениям подгот. "Техн. физика", "Теплоэнергетика" / С. Б. Нестеров, А. В. Андросов, Ю. К. Васильев, 2007. - 79 с. - Текст : непосредственный. Сабирзянов Н.Р. Разработка криовакуумного обеспечения нанотехнологических установок : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.04.03 / Н. Р. Сабирзянов, 2006. - 20 с. - Текст : непосредственный. Кеменов В.Н. Вакуумная техника и технология : Учеб. пособие по курсу "Криовакуум. техника" для студентов по спец. "Техника и физика низких температур" (070200) и "Электрон. машиностроение" (200500) / В.Н.Кеменов,С.Б.Нестеров, 2002. - 83 с. - Текст : непосредственный. Нестеров С.Б. Методы расчета вакуумных систем / С. Б. Нестеров, Ю. К. Васильев, А. В. Андросов, 2004. - 219 с. - Текст : непосредственный. Нестеров С.Б. Судакские доклады / С. Б. Нестеров, 2014. - 168 с. - Текст : непосредственный. Взаимодействие высокоскоростных свободномолекулярных потоков газа с гладкими и шероховатыми поверхностями / А. И. Ерофеев [и др.], 2012. - 75 с. - Текст : непосредственный. Подходы к созданию комплексных систем для отработки и испытания космических аппаратов / С. В. Кравченко [и др.], 2012. - 31 с. - Текст : непосредственный. Асташина М.А. Анализ молекулярных потоков с учетом газовыделения поверхностей / М. А. Асташина, С. Б. Нестеров, 2012. - 62 с. - Текст : непосредственный. Методы расчета сложных вакуумных систем / С. Б. Нестеров [и др.]; под общ. ред. С. Б. Нестерова, А. В. Бурмистрова, 2012. - 373 с. - Текст : электронный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik". - 193 c. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Карташев В.А. Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный. Kaczmarek D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych / D.Kaczmarek, 1999. - 110 s. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Карташев В.А. Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный. Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный. Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный. Gloede W. Vom Lesestein zum Elektronenmikroskop / W.Gloede, 1986. - 248 S. - Текст : непосредственный. Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный. Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 1. Общая часть. Гл.2,3,4 / ВЦП. - 106 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Фадеев А.В. Ближнеполевая СВЧ - микроскопия и ее использование для определения характеристик элементов твердотельной СВЧ электроники / А. В. Фадеев, 2014. - 18 с. - Текст : непосредственный. Фролов А.П. Структуры с фотонной запрещенной зоной и их использование в ближнеполевой СВЧ-микроскопии / А. П. Фролов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Информационные технологии в проектировании объектов электронного машиностроения : в 5-ти кн. Кн. 4 : Информационная технология в проектировании сканеров зондовых микроскопов, 2011. - 255 с. - Текст : непосредственный. Черкун А.П. Физические аспекты сканирующего фотоэмиссионного микроскопа на основе зонда-капилляра / А. П. Черкун, 2016. - 24 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
