Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный.Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный.Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный.Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный.Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный.Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный.Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный.Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный.Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный.Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный.Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный.Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный.Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный.Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный.
Годжелло А.Г. Контрольные карты : Учеб. пособие по курсу "Контроль качества" / А.Г.Годжелло;Под ред. В.П.Соколова, 1997. - 48 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1436) : Специализированные средства функционального контроля : По данным отеч.и зарубеж.печати 1977-1988 г.г. / В.Н.Литвак,Е.Е.Михайлов,А.А.Топтун, 1989. - 64 с. - Текст : непосредственный.Управление качеством электронных средств : Учеб.для вузов по направлению "Проектирование и технология электрон.аппаратуры" и спец."Проектирование и технология радиоэлектрон.средств","Конструирование и технология электрон.-вычислит.средств" / О.П.Глудкин,А.И.Гуров,А.И.Коробов и др.;Под ред.О.П.Глудкина, 1994. - 414 c. - Текст : непосредственный.Шухат Б.А. Локализация неисправных подсхем в электронных устройствах аналогового типа : втореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05;05.09.05 / Б. А. Шухат, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Волков, В. А. Производство перспективных ЭВС : Учеб.пособие. Ч. 1 : Системный подход к обеспечению качества аппаратуры конструктивно-технологическими средствами, 1998. - 170 с. - Текст : непосредственный.Оценка показателей качества на этапах проектирования и производства электронных устройств в условиях применения высоких технологий / Ю. П. Ермолаев [и др.], 2006. - 96 с. - Текст : непосредственный.Муромцев, Д. Ю. Управление качеством электронных средств : учеб. пособие. Ч. 1, 2005. - 79 с. - Текст : непосредственный.Абомелик Т.П. Управление качеством электронной аппаратуры : Учеб.пособие для студентов направления 55.11.00 "Проектирование и технология электрон.аппаратуры" / Т.П.Абомелик;Под ред.Л.И.Волгина, 1997. - 332 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 5(1398) : Статистический анализ технологических процессов на основе обработки результатов тестового контроля / С.А.Еремин,Д.Б.Десятов,В.В.Сысоев, 1988. - 54 с. - Текст : непосредственный.Муромцев, Д. Ю. Управление качеством электронных средств : учеб. пособие. Ч. 2, 2007. - 96 с. - Текст : непосредственный.Власенко В.А. Микропроцессорные системы неразрушающего контроля качества изделий электронной техники / В.А.Власенко,О.И.Шкодин, 1990. - 144 c. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 6(1682) : Методы рентгеновского микроанализа тонких пленок : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1960-1991 гг. / А.В.Баскаков, 1992. - 68 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽