Приложение
для AndroidПолное описание
Физические основы рентгеноспектрального локального анализа. - М. : Наука ; [Б. м.] : Гл. ред. физ.-мат. лит., 1973. - 311 с. : ил. - 3300 экз. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 31.19.03 | 543.422.8 |
Рубрики:
Рентгеноспектральный анализ
Доп. точки доступа:
Боровский, И.Б.\ред.\
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д4/108)
Шифр в сводном ЭК: d01fb40559874bad3af781a96ba2160f
Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный.Процессы взаимной диффузии в сплавах, 1973. - 359 с. - Текст : непосредственный.Локальные методы анализа материалов, 1973. - 296 с. - Текст : непосредственный.Электронно-зондовый микроанализ, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный.
Романенко С.В. Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / С. В. Романенко, 2006. - 44 с. - Текст : непосредственный.Никитина Д.В. Ионные ловушки в динамической масс-спектрометрии : специальность 01.04.04 "Физическая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / Д. В. Никитина, 2006. - 15 с. - Текст : непосредственный.Заруцкий И.В. Алгоритмы и программы первичной обработки масс-спектрометрических сигналов для автоматизации изотопного и элементного анализа : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. В. Заруцкий, 2007. - 16 с. - Текст : непосредственный.Фрезениус, Карл Ремигий. Руководство к качественному химическому анализу : монография / Р. Фрезениус, 1864. - III, 652, XI с. - Текст : непосредственный.Бурылин М.Ю. Атомно-абсорбционное определение гидридобразующих и легколетучих элементов в объектах окружающей среды - проблемы и аналитические решения : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / М. Ю. Бурылин, 2008. - 45 с. - Текст : непосредственный.Количественные методы в масс-спектрометрии / И. Лаваньини, Ф. Маньо, Р. Сералья, П. Тральди, 2008. - 175 с. - Текст : непосредственный.Сараева С.Ю. Графитсодержащие сенсоры в инверсионной вольтамперометрии : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук / С. Ю. Сараева, 2002. - 23 с. - Текст : непосредственный.Задачник по аналитической химии / Н. Ф. Клещев, Е. А. Алферов, Н. В. Базалей, 1993. - 223 c. - Текст : непосредственный.Martin D.K. Nanobiotechnology of biomimetic membranes / D. K. Martin, 2007 r=on-lineVerma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Васильев В.П. Аналитическая химия : Учебник для студентов вузов по хим.-технол.спец. Кн. 1(2007) : Титриметрические и гравиметрический методы анализа, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный.Отто М. Современные методы аналитической химии : монография / М. Отто, 2006. - 543 с. - Текст : непосредственный.Гунцов А.В. Математическое моделирование процессов электронакопления микроколичеств осадка, осложненных химическими реакциями / А. В. Гунцов, Л. В. Гунцова, А. А. Шилов, 2013. - 79 с. - Текст : непосредственный.Носкова Г.Н. Твердые углеродсодержащие композитные электроды для определения элементов вольтамперометрическими методами : специальность 02.00.02 "Аналитическая химия" : диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук / Г. Н. Носкова, 2012. - 43 с. - Текст : непосредственный.Новоженов В.А. Термический анализ : учеб. пособие / В. А. Новоженов, Н. Е. Стручева, 2012. - 383 с. - Текст : непосредственный.Journal of Analytical Atomic Spectrometry. - Журнал r=on-line. - Текст : электронный.Актуальные проблемы неорганической и аналитической химии : межвуз. темат. сб. науч. тр. / Российский гос. ун-т им. И.Канта. Вып. 2, 2006. - 122 с. - Текст : непосредственный.Харитонов Ю.Я. Примеры и задачи по аналитической химии (Гравиметрия, экстракция, неводное титрование, физико-химические методы анализа) : учебное пособие / Ю. Я. Харитонов, В. Ю. Григорьева, 2008. - 299 с. - Текст : непосредственный.Актуальные проблемы неорганической и аналитической химии : межвуз. темат. сб. науч. тр. / Рос. гос. ун-т им. И.Канта. Вып. 3, 2007. - 113 с. - Текст : непосредственный.Лурье Ю.Ю. Справочник по аналитической химии / Ю. Ю. Лурье, 2007. - 447 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыФизические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный.Клюшников О.И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия / О. И. Клюшников, 2016. - 388 с. - Текст : непосредственный.
Шевченко Л.В. Two-flux Monte-Karlo approach to electron diffusion in solids / Л.В.Шевченко,Б.Н.Юрченко, 1990. - 13 p. - Текст : непосредственный.Meisel A. X-ray Spectra and chemical binding / A.Meisel,G.Leonhardt,R.Szargan;Transl. from German by E. K@:allne, 1989. - VIII, 458 p. 458 p. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 32 : Proc.of the 37th annu., Denver conf.on applications of X-ray analysis, Steamboat Springs(Co), 1988. - 681 p. - Текст : непосредственный.Zschornack G. Atomdaten fur die Rontgenspektralanalyse / G.Zschornack, 1989. - 608 S. - Текст : непосредственный.Плюто И.В. Применение метода РФС для анализа состава поверхности нанесенных систем : Препринт / И. В. Плюто, А. П. Шпак, С. В. Миловзоров, 1991. - 9 с. - Текст : непосредственный.Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение / Р. Андерхальт [и др.]; под ред. У. Жу, Уфнга Ж. Л.; пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина; под ред. Т. П. Каминской, 2013. - 582 с. - Текст : непосредственный.Соколов Н.А. Рентгеноспектральный анализ : Учеб.пособие / Н.А.Соколов, 1990. - 41 c. - Текст : непосредственный.Рид С.Д.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / С. Д.Б. Рид; пер. с англ. Д. Б. Петрова и др., 2008. - 229 с. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 33 : Proceedings of the 38th annual conference on applications of X-ray analysis held July 31-Aug.4,1989 Denver(Co), 1990. - XX,704 p. p. - Текст : непосредственный.Фетисов Г.В. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ / Г. В. Фетисов; под ред. Л. А. Асланова, 2007. - 671 с. - Текст : непосредственный.Борходоев В.Я. Рентгеноспектральный анализ : Учеб.пособие / В.Я.Борходоев, 1996. - 89 с. - Текст : непосредственный.Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов, 2011. - 196 с. - Текст : непосредственный.Avaldi L. Thick target Ka X-ray yields for 66 elements from Na to Pb induced by 1-100 MeV protons / L.Avaldi,S.Bassi, 1990. - 180 kol. - Текст : непосредственный.Руководство для пользователя системы EX-6000 / ВЦП. - 93 с. - Текст : непосредственный.Advances in X-ray analysis. Vol. 35A : The pacific international congress on X-ray analytical methods,15-19 Aug.1991 Honolulu(Hi), 1992. - XXX,691 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Verma H.R. Atomic and nuclear analytical methods / H. R. Verma, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Мазалов Л.Н. Рентгеновские спектры / Л. Н. Мазалов, 2003. - 328 с. - Текст : непосредственный.Алексеев А.В. Развитие метода Дебая-Шеррера для характеризации кристаллических фаз, представленных в микроколичествах / А. В. Алексеев, 2010. - 18 с. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н. В. Тронева, М. А. Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Научные школы рентгеновской и рентгеноэлектронной спектроскопии России : монография / Э. П. Домашевская, А. С. Шулаков, В. Л. Сухоруков [и др.], 2015. - 329 с. - Текст : непосредственный.Физические основы рентгеноспектрального локального анализа, 1973. - 311 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Определение свойств веществ и материалов по зависимостям спектр-свойства и цвет-свойства : материалы временных коллективов / "Нефтегазтехнология", науч.-произв. об-ние (Уфа), 1998. - 50 с. - Текст : непосредственный.EXAFS and near edge structure III : материалы временных коллективов / Ed. K. O. Hodgson, 1984. - XV,533 p. p. - Текст : непосредственный.Carr-Brion K. X-ray analysers in process contol / K. Carr-Brion, 1989. - X,161 p. p. - Текст : непосредственный.Дубинин П.С. Разработка отраслевых стандартных образцов химического и фазового состава электролита алюминиевых электролизеров для калибровки рентгеновских измерительных приборов : специальность 05.11.13 "Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / П. С. Дубинин, 2009. - 22 с. - Текст : непосредственный.Пахаруков Ю.В. Рентгеновские методы определения фазового состава в конденсированной среде : выставочные материалы / Ю. В. Пахаруков, 2015. - 47 с. - Текст : непосредственный.Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : выставочные материалы / И. И. Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный.Электронно-зондовый микроанализ, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный.Клюшников О.И. Количественная рентгеноэлектронная спектроскопия / О. И. Клюшников, 2016. - 388 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽
Просмотр издания
или
Просмотр издания