ГПНТБ России - Полное описание

Государственная публичная
научно-техническая библиотека России

Основана в 1958 году

Полное описание

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Рамановский микроанализ остаточных напряжений в обработанном кремнии и германии / Ин-т сверхтвердых материалов. - 21 c. - Текст : непосредственный.

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Рамановский микроанализ остаточных напряжений в обработанном кремнии и германии / Ин-т сверхтвердых материалов. - 21 c. - Текст : непосредственный.Применение лазеров в измерительной технике / ВЦП. - 7 c. - Текст : непосредственный.Лазерные многофункциональные диагностические системы / В.В.Анциферов,С.П.Ильиных,К.Л.Комаров и др., 1998. - 23 с. - Текст : непосредственный.Загребельный В.Е. Построение лазерных систем для контроля шероховатости поверхности на основе импульсной акустооптической пространственно-временной развертки : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук:05.11.16 / В. Е. Загребельный, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный.Техническая эндоскопия (системы, компоненты, применение) / ВЦП. - 41 c. - Текст : непосредственный.Автоматический эллипсометр : Руководство по эксплуатации и обслуживанию / ВЦП. - 247 c. - Текст : непосредственный.Сухоруков К.А. Численные методы реконструкции трехмерной поверхности по многоракурсным изображениям, полученным в структурированном свете : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 01.04.05 / К. А. Сухоруков, 2005. - 23 с. - Текст : непосредственный.Ульянов С.С. Формирование частично-развитых спекл-полей при дифракции сфокусированных гауссовых пучков : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.21 / С. С. Ульянов, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.Джабиев А.Н. Многомерная идентификация интерферометрических систем дистанционного динамического мониторинга объектов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:05.11.07 / А. Н. Джабиев, 1999. - 34 с. - Текст : непосредственный.Optics and Lasers in Engineering. - Журнал, 1999г. Vol. 32 № 1.Казарбин А.В. Оптические методы исследования динамики и диагностики быстровращающихся тел : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / А. В. Казарбин, 1997. - 19 с. - Текст : непосредственный.Казаков В.И. Система оптического спектрального контроля с высокопорядковой дифракционной решеткой : специальность 05.11.13 - Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / В. И. Казаков, 2019. - 19 с. - Текст : непосредственный.Optics and Lasers in Engineering. - Журнал, 1999г. Vol. 31 № 1.Optics and Lasers in Engineering. - Журнал, 1999г. Vol. 31 № 2.Optics and Lasers in Engineering. - Журнал, 1999г. Vol. 31 № 3.Optics and Lasers in Engineering. - Журнал, 1999г. Vol. 31 № 4.

Показать все результаты

Ищенко А.А. Нанокремний: свойства, получение, применение, методы исследования и контроля / А. А. Ищенко, Г. В. Фетисов, Л. А. Асланов, 2011. - 647 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 9(1506) : Особенности получения и области применения пористого кремния в электронной технике : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1970-1988 гг. / К.П.Николаев,Л.И.Немировский, 1989. - 60 с. - Текст : непосредственный.Шелованова Г.Н. Современные проблемы электроники: кремниевая электроника : учебное пособие / Г. Н. Шелованова, 2006. - 176 с. - Текст : непосредственный.Бабич В.М. Кислород в монокристаллах кремния / В. М. Бабич, Н. И. Блецкан, Е. Ф. Венгер, 1997. - 239 с. - Текст : непосредственный.Kruger M. Mikrostrukturierung von porosem Silicium fur optische und optoelektronische Anwendungen / M. Kruger, 1998. - XII,138 S. S. - Текст : непосредственный.Yeckel A. Theoretical analysis and design considerations for float-zone refinement of electronic grade silicon sheets / A. Yeckel, G. Salinger, J. J. Derby, 1994. - 34 p. - Текст : непосредственный.

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Немчинова Н.В. Физикохимия и карботермия кремния : учебное пособие / Н. В. Немчинова, 2017. - 287 с. - Текст : непосредственный.Li J. MIDI! Basis set for silicon, bromine, and iodine / J.Li,Ch.J.Cramer,D.G.Truhlar, 1997. - 18 p. - Текст : непосредственный.Герасименко, Н. Н. Мир материалов и технологий. 6.12 : Кремний - материал наноэлектроники, 2007. - 351 с. - Текст : непосредственный.Исследование подвижности дислокаций в монокристаллическом кремнии посредством высокотемпературного внутреннего трения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 13 c. - Текст : непосредственный.Рамановский микроанализ остаточных напряжений в обработанном кремнии и германии / Ин-т сверхтвердых материалов. - 21 c. - Текст : непосредственный.Айвазов А.А. Аморфный гидрогенизированный кремний и приборы на его основе : Учеб. пособие / А.А.Айвазов,Б.Г.Будагян, 1996. - 71 с. - Текст : непосредственный.

Показать все результаты

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Заказ фрагмента документа ₽