Приложение
для AndroidПолное описание
Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев. - М. : Наука, 1993. - 112 с. : ил. - (Труды ФТИАН / Физ.-технол.ин-т ; т.5). - 370 экз. - ISBN 5-02-006981-7. - Текст : непосредственный.
Библиогр. в конце ст.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.13.81 | 621.3.049.76.001.4 |
Рубрики:
Микроэлектронные приборы -- Техническая диагностика
Доп. точки доступа:
Афанасьев, А.М.\ред.\
Физ.-технол.ин-т
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/14892/5)
Шифр в сводном ЭК: 10e2f7239c9afcae6d76ea9cf2ed559a
Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Афанасьев А.М. Методы расчета электрических цепей постоянного тока : выставочные материалы / А. М. Афанасьев, 2016. - 61 с. - Текст : непосредственный.Афанасьев А.М. Нефтехимический комплекс: методы оценки и обеспечения устойчивости функционирования / А. М. Афанасьев, 2003. - 383 с. - Текст : непосредственный.Михайлов В.К. Краткий курс векторного анализа : выставочные материалы / В. К. Михайлов, Б. Н. Сипливый, А. М. Афанасьев, 2017. - 142 с. - Текст : непосредственный.
Афанасьев А.М. Математическое моделирование процессов тепло- и массопереноса при сушке электромагнитным излучением : автореф. дис. .. д-ра техн. наук: 05.13.18 / А. М. Афанасьев, 2010. - 33 с. - Текст : непосредственный.Михайлов В.К. Задачи по векторному анализу : Учеб. пособие / В.К. Михайлов, Б.Н. Сипливый, А.М. Афанасьев, 2005. - 141 с. - Текст : непосредственный.Геологи ВСЕГЕИ в создании урановорудной базы страны / Е. Н. Афанасьева [и др.], 2006. - 159 с. - Текст : непосредственный.Решение краевых задач для уравнения Лапласа методом Фурье : Учеб. пособие / А. М. Афанасьев [и др.], 2007. - 48 с. - Текст : непосредственный.Афанасьев А.М. Методы оценки альтернативных возможностей инвестирования с учетом рисков изменения доходности : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.13 / А. М. Афанасьев, 2011. - 25 с. - Текст : непосредственный.Афанасьев А.М. Методы оценки и обеспечения устойчивости функционирования предприятий нефтехимического комплекса / А.М.Афанасьев, 2002. - 254 с. - Текст : непосредственный.Афанасьев А.М. Полупроводниковый преобразователь комбинированной структуры для установок высокочастотного индукционного нагрева : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.09.12 / А. М. Афанасьев, 2016. - 18 с. - Текст : непосредственный.Михайлов В.К. Задачи по векторному анализу : Учеб. пособие / В. К. Михайлов, Б. Н. Сипливый, А. М. Афанасьев, 2001. - 145 с. - Текст : непосредственный.Афанасьев А.М. Генерационные процессы в тонкопленочных электролюминесцентных структурах на основе сульфида цинка, легированного марганцем : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / А. М. Афанасьев, 2009. - 22 с. - Текст : непосредственный.Афанасьев А.М. Научные основы управления сферой обращения лекарственных средств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра экон. наук: 08.00.05 / А. М. Афанасьев, 2000. - 35 с. - Текст : непосредственный.Программный комплекс "ПРОГНОЗ" - интеллектуальная система поддержки принятия решения для оператора реактора РБМК / Р.В.Арутюнян,А.М.Афанасьев,А.А.Афанасьева,Л.А.Большов, 1997. - 25 с. - Текст : непосредственный.Афанасьев А.М. Жилищный комплекс России: идеология свободы и развития : учеб. пособие / А.М. Афанасьев, 2005. - 638 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Субмикронные технологии : сборник научных трудов / Ред. В. Н. Репин, 1995. - 79 c. - Текст : непосредственный.Проблемы субмикронной технологии : сборник / Ред. А. А. Орликовский, 1993. - 113 с. - Текст : непосредственный.Исследование технологических процессов и приборов микроэлектроники : сборник научных трудов / Ред. В. А. Курчидис, 1997. - 168 с. - Текст : непосредственный.Проблемы микроэлектронной технологии : Сб.ст. / Отв.ред.Орликовский, 1994. - 128 c. - Текст : непосредственный.Проблемы субмикронной технологии / Ред. А. А. Орликовский, 1996. - 109 с. - Текст : непосредственный.Ионно-лучевая обработка материалов в микро- и наноэлектронике / Ред. Ю. П. Маишев, 1999. - 185 с. - Текст : непосредственный.Микроструктурирование тонких пленок : Сб.ст. / Отв.ред.А.А.Орликовский, 1991. - 112 с. - Текст : непосредственный.Моделирование технологических процессов микроэлектроники : Сб.ст. / Отв.ред.Т.М.Махвиладзе, 1992. - 120 с. - Текст : непосредственный.Problems of Submicron Technology / Ed.by А.А.Orlikovsky, 2000. - 111 p. - Текст : непосредственный.Диагностика полупроводниковых и магнитных структур с нанометровыми размерами / Отв. ред. А.М.Афанасьев, 1999. - 127 с. - Текст : непосредственный.
Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Субмикронные технологии : сборник научных трудов / Ред. В. Н. Репин, 1995. - 79 c. - Текст : непосредственный.Проблемы субмикронной технологии : сборник / Ред. А. А. Орликовский, 1993. - 113 с. - Текст : непосредственный.Проблемы микроэлектронной технологии : сборник / Ред. Л. В. Великов, 1994. - 78 c. - Текст : непосредственный.
Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Чехов А.П. Организационная структура распределенной системы технического контроля и диагностики процесса изготовления РЭА / А. П. Чехов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный.Диагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 8(1485) : Электрический тестовый контроль на этапах создания интегральных схем : По дан. отеч. и зарубеж. печати за 1972-1988 гг. / С.М.Кузин,В.Н.Панасюк,В.Г.Мокеров,В.В.Исаев, 1989. - 32 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 4-91, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Пиганов М.Н. Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических материалов и структур : учебное пособие / М. Н. Пиганов, Н. Т. Кузнецов, 2009. - 118 с. - Текст : непосредственный.Строев К.Н. Разработка методов аппаратуры контроля параметров быстродействующих прецизионных аналоговых интегральных схем : специальность 05.11.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / К. Н. Строев, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В. А. Исаенко, М. Н. Кузьо, А. А. Самчинский, 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Иванов И.Г. Разработка автоматизированной системы контроля исполнения процесса производства радиотехнических изделий : специальность 05.12.17 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / И. Г. Иванов, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Система контроля и анализа технических свойств интегральных элементов и устройств вычислительной техники по многоуровневой модели информативных параметров : специальность 05.13.05 "Элементы и устройства вычислительной техники и систем управления" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / Н. Н. Номоконова, 2010. - 40 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.Русакова Ж.П. Развитие методических основ электронной ОЖЭ-спектроскопии для анализа поверхности диэлектрических объектов : специальность 05.11.09 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Ж. П. Русакова, 1996. - 15 с. - Текст : непосредственный.Задорин А.Ю. Автоматизация визуального контроля качества печатных плат : специальность 05.13.06 "Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами(по отраслям)" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. Ю. Задорин, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.Кострин Д.К. Оборудование и методы спектрометрического контроля изделий и процессов электроники / Д. К. Кострин, 2015. - 159 с. - Текст : непосредственный.Меженный М.В. Автоматизированный комплекс для измерения макронапряжений в кремниевых деталях / М. В. Меженный, В. А. Гребенников, Е. Б. Кульбацкий, 2007. - 11 с. - Текст : непосредственный.Енгалычев А.Н. Автоматизация процессов контроля РЭС / А. Н. Енгалычев, А. Р. Пахлеванян, 1991. - 99 с. - Текст : непосредственный.Антипов В.А. Мультиагентные информационно-измерительные системы технического контроля и диагностики РЭА : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / В. А. Антипов, 2007. - 37 с. - Текст : непосредственный.Стандартизация и метрология в электронике : Руководящие метод.материалы / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург). 2-96, 1996. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыДиагностика микроэлектронных структур / Ред. А. М. Афанасьев, 1993. - 112 с. - Текст : непосредственный.Марущенко С.Г. Исследование методов и разработка алгоритмов обработки электронно-микроскопических изображений с целью диагностики микроэлектронных приборов : специальность 05.27.07 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / С. Г. Марущенко, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный.
Старовойтов Д.А. Математические методы вычислительной диагностики изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-=мат.наук:05.13.16 / Д. А. Старовойтов, 1992. - 15 с. - Текст : непосредственный.Proceedings of the international conference on microelectronic test structures,Mar. 1990,San Diego(Ca) : Mfiche (5) / International conference on microelectronic test structures (1990 ; San Diego(Ca)) , 1990. - 244 мкфш. - Текст : непосредственный.Чукалина М.В. Реконструкция микрорельефа поверхности и состава приповерхностных слоев объектов микроэлектроники по рентгенофлуоресцентному сигналу : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук:05.27.01 / М. В. Чукалина, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Атомно-молекулярная технология и диагностика : Учеб.пособие / В.В.Лучинин,А.Н.Дунаев,А.З.Казак-Казакевич и др., 1998. - 56 с. - Текст : непосредственный.Матвеев В.М. Резонансная рентгеновская магнитооптика редкоземельных слоистых наноструктур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:05.27.01 / В. М. Матвеев, 1996. - 52 с. - Текст : непосредственный.Щапова И.А. Эллипсометрический метод контроля параметров сложных диэлектрических структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / И. А. Щапова, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный.Papers presented at the IEEE International conference on microelectronic test structures,Nara,Japan,March 22-25,1995 / ICMTS'95, 1996. - 152 p. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽