• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Журнал
    Journal of Electron Microscopy. - Выходит раз в два месяца. - ISSN 0022-0744. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ
    29.35.43

    Аннотация: Статьи и обзоры по результатам теоретических и экспериментальных исследований в области электронной микроскопии (в т.ч. сканирующей зондовой микроскопии, сканирующей туннельной микроскопии) и ее применения в нанотехнологии, материаловедении, медицине и биологии: теории, разработки электронных микроскопов с новыми характеристиками (напр., зондовый микроскоп, туннельный микроскоп, полевой эмиссионный сканирующий микроскоп); аналитические методы исследований, методики препарирования образцов, приборное обеспечение, формирование и анализ изображений, электронная голография, компьютерное моделирование изображений. Реклама продуктов для оптической и электронной микроскопии (химические реагенты, эпоксидные смолы), микроскопов и компонентов, онлайновых изданий.
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): V3011)

    Записей номеров в Каталоге: 81
    ГодТомНомера
    123456
    199342     № №
    199443 № № № № № №
    199544 № № № № № №
    199645 № № № № № №
    199746 № № № № № №
    199847 № № № № № №
    199948 № № № № № №
    200049 № № № № № №
    200150 № № № № № №
    200251 № № № № № №
    200352 № № № № № №
    200453 № № № № № №
    200554 № № № № № №
    200655 № № № № № №
    200756 №