Приложение
для AndroidПолное описание
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный.Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный.Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный.Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный.Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный.Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный.Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный.Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный.Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный.Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный.Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный.Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный.Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный.Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
New frontiers in testing : материалы временных коллективов, 1988. - xxx,1005 p. p. - Текст : непосредственный.
International test conference,Oct.26-30,1991,Nashville(TN):Proc. / ITC, 1991. - XIV,1135 p. p. - Текст : непосредственный.First Asian test symposium,Nov.26-27,1992,Hiroshima : Proc. / ATS'92, 1992. - X,259 p. p. - Текст : непосредственный.Design, automation and test in Europe : Conference and exhibition, Munich, March 13-16, 2001: Proc. / Ed. W. Nebel, 2001. - XXXVI, 829 p. 829 p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the seventh international on-line testing workshop, 9-11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy / IOLTW 2001, 2001. - XI,228 p. p. - Текст : непосредственный.Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 3 : Вопросы автоматизации контрольно-диагностических процедур, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный.Integration of test with desigh and manufacturing : Intern.test conf.Sept.1-3,1987,Washington(DC):Proc. / ITC, 1987. - XXXI,1151 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the IEEE European test workshop, ETW 2001, 29 May - June 2001, Stockholm, Sweden / Spons. by IEEE Computer soc. test technology council (TTTC) Link@:oping univ. (LiU), 2001. - XII,147 p. p. - Текст : непосредственный.Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 3rd Europ.conf.on electron and optical beam testing of electronic devices,Sept.1-3,1993,Zurich / ed. A. Birolini, 1994. - XIII,442 p. p. - Текст : непосредственный.Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 5th European conf.on electron..Aug.27-30,1995,Wuppertal,Germany / ed. E. Wolfgang, 1996. - XII,432 p. p. - Текст : непосредственный.Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 1 : Методы и средства диагностирования цифровых устройств, 1990. - 61 c. - Текст : непосредственный.2nd European test conference Munich,Apr.10-12,1991 : Proc. / ETC'91, 1991. - 532 p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the international test conference,Washington,sept.1990 / ITC, 1990. - XIV,1083 p. мкф. - Текст : непосредственный.
Показать все результаты| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
| |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽