Приложение
для AndroidПолное описание
Высоко-скоростной оптический рефлектометр с улучшенным динамическим диапазоном. - 19 с. : ил. . - Пер.ст. A High-Speed Optical Time-Domain Reflectometer With Improved Dynamic Range / M. Fleischer-Reumann, Sischka из журн.: // Hewlett-Packard Journal. - 1988. - Vol. 39. - P.6-13. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: 3 назв.
ГРНТИ 59.41
Рубрики:
Рефлектометры
Доп. точки доступа:
Fleischer-Reumann, M.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 06921000142)
Шифр в сводном ЭК: 6fdf267091d082ff7e46c8e5dee1f03f
Высоко-скоростной оптический рефлектометр с улучшенным динамическим диапазоном. - 19 с. - Текст : непосредственный.Optik. - Журнал выходит с 1946г. - Текст : непосредственный.Метрологическое обеспечение измерений : Обзор.информ. / ВНИИ техн.информации,классификации и кодирования.ВНИИКИ. Вып. 2(1990) : Измерение физических величин волоконно-оптическим интерферометром Маха-Цендера, 1990. - 44 с. - Текст : непосредственный.Тартаковский В.А. Многомерный аналитический сигнал и исследование фазы световой волны : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / В. А. Тартаковский, 1999. - 32 с. - Текст : непосредственный.Майорова О.В. Когерентные методы и системы оптической обработки голографических интерферограмм / О. В. Майорова, 2010. - 17 с. - Текст : непосредственный.Heimbach H. Untersuchungen zur Realisierbarkeit eines Laserionisations-Massenspektrometers auf der Grundlage eines MAT-SM1B Gerates / H. Heimbach, 1991. - 61 S. - Текст : непосредственный.Maas A.A.M. Phase shifting speckle interferometry / A. A.M. Maas, 1991. - VII,139 p. p. - Текст : непосредственный.Витрик О.Б. Основы информационной оптики: оптика спеклов и многомодовых интерферометров : учебное пособие / О. Б. Витрик, 2008. - 90 с. - Текст : непосредственный.Мельников Л.А. Пространственно-временная динамика световых полей в лазерах,резонансных средах и оптических волноводах : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Л. А. Мельников, 1992. - 29 с. - Текст : непосредственный.Левандовская Л.Е. Оптические схемы приборов с вогнутыми голограммными дифракционными решетками,записываемыми во встречных пучках лучей : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Л. Е. Левандовская, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Базыкина Н.А. Акустооптические лазерные интерферометры в информационно-измерительных и управляющих системах : специальность 05.11.16 "Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. А. Базыкина, 2006. - 18 с. - Текст : непосредственный.Черевко Т.А. Численные методы оценки качества изображения оптических систем для широкой области спектра : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / Т. А. Черевко, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Гейдт В.В. Локальное восстановление неламбертовых оптических поверхностей : специальность 05.13.16 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук / В. В. Гейдт, 1991. - 13 с. - Текст : непосредственный.Ефремов А.М. Математическое моделирование спектральных свойств композиционных материалов с поглощающими микровключениями : специальность 01.04.05 "Оптика" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / А. М. Ефремов, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Industrial laser interferometry II : материалы временных коллективов / Ed.: M. Y.Y. Hung, R. Pryputniewicz, 1988. - VI,163 p. p. - Текст : непосредственный.Кирилловский В.К. Дифракционные интерферометры / В. К. Кирилловский, И. Р. Петрученко, 1990. - 51 c. - Текст : непосредственный.Измайлов И.В. Детерминированный хаос в моделях нелинейного кольцевого интерферометра / И. В. Измайлов, А. В. Лячин, Б. Н. Пойзнер, 2007. - 252 с. - Текст : непосредственный.Захаров А.С. Нелинейный анализ стохастических параметров интерференционных систем : специальность 05.13.01 "Системный анализ,управление и обработка информации (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. С. Захаров, 2005. - 18 с. - Текст : непосредственный.Власов В.А. Влияние размеров частиц на оптические свойства и радиационную стойкость люминофоров и пигментов светоотражающих покрытий : специальность 01.04.07 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / В. А. Власов, 2001. - 22 с. - Текст : непосредственный.Applied Spectroscopy. - Журнал, 1993г. т. 47 № 4.
Показать все результатыКирилов А.С. Новые версии программ юстировки и визуализации спектров для рефлектометров реактора ИБР-2 / А. С. Кирилов, 2015. - 12 с. - Текст : непосредственный.Высоко-скоростной оптический рефлектометр с улучшенным динамическим диапазоном. - 19 с. - Текст : непосредственный.
Двухмодовый рефлектометр на поляризованных нейтронах с анализом поляризации после образца / Я.Касман,М.Колхидашвили,Н.Плешанов и др., 1997. - 36 с. - Текст : непосредственный.Michelsen P. numerical study of reflectometer performance / P.Michelsen,H.Pecseli, 1991. - 28 p. - Текст : непосредственный.Электронное обеспечение рефлектометра поляризованных нейтронов реактора ИР-8 / Т. И. Глушкова [и др.], 2018. - 39 с. - Текст : непосредственный.Аксенов В.Л. The time-of-flight four-beam neutron reflectometer reflex at the high flux pulsed reactor ibr-2 and some possible applications / В. Л. Аксенов, D. A. Korneev, L. P. Chernenko, 1993. - 20 p. - Текст : непосредственный.Рефлектометр поляризованных нейтронов "Рефлекс-П" : Сообщ. Объед. ин-та ядер. исслед. / В.В.Скоков,Д.В.Винник,С.А.Смолянский,В.Д.Тонеев, 2002. - 14 с. - Текст : непосредственный.Айбатов Д.Л. Основы рефлектометрии : учеб. пособие / Д. Л. Айбатов, О. Г. Морозов, Ю. Е. Польский, 2008. - 111 с. - Текст : непосредственный.Mikrofalowe reflektometry trojwrotowe na pasmo lis. System pomiarowy do badania wlasnosci dielektrykow i ferrytow w pasmie mikrofalowym ; J. Modelski, S Dmowski, J. Krupka, 1994. - 101 s. - Текст : непосредственный.Junemann R. Ein-Sechstor-Reflektometer fur passive Mikrostreifenleitungskomponenten : Diss. / R.J@:unemann, 1990. - VI,172 S. S. - Текст : непосредственный.Аксенов, Виктор Лазаревич. Резонансная нейтронная рефлектометрия : к 70-летию Объединенного институт ядерных исследований / В. Л. Аксенов, 2026. - 49, [1] с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
 |  |
Заказ фрагмента документа ₽