Полное описание
> Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.] ; Урал. федер. ун-т им. первого Президента России Б. Н. Ельцина, Физ.-технол. ин-т. - Екатеринбург : УрФУ, 2017. - 179 с. : ил. - Библиогр.: с. 167-168. - 70 экз. - ISBN 978-5-321-02523-9. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.35.43 621.385.833.2 ББК 22.3
Рубрики: Микроскопия электронная
Кл.слова (ненормированные): ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВЫЙ ПРИБОР -- ИЗОБРАЖЕНИЕ -- НАНОИНДЕНТОР -- ПОВЕРХНОСТЬ -- СЗМ -- ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ
Аннотация: В учебном пособии представлены основы методов получения изображений в сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Практическая часть пособия знакомит с устройством зондовых приборов, принципами их работы и режимами настройки. Представлены примеры лабораторных практикумов для обучения основным навыкам работы с оборудованием для СЗМ и со специализированным программным обеспечением, которое позволяет проводить анализ и обработку изображений, полученных при различных режимах работы зондового микроскопа. Пособие предназначено для бакалавров, магистров и специалистов инженерно-технических и естественнонаучных образовательных направлений.
Доп. точки доступа: Ищенко, А.В.
Вохминцев, А.С.
Огородников, И.И.
Вайнштейн, И.А.
Шульгина, Б. В.\ред.\
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина (Екатеринбург). Физико-технологический институт
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д10-17/44323)>
Шифр в сводном ЭК: 83d3f3ed4066ce8189bcd6cc3b466fdc
Моиз Э.Э. Геометрия, 1972. - 622 с. - Текст : непосредственный. Ищенко А.В. Обоснование рациональных конструкций противофильтрационных устройств гидротехнических сооружений : специальность 05.23.07 "Гидротехническое строительство" : диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук / А. В. Ищенко, 2010. - 32 с. - Текст : непосредственный. Ищенко А.В. Фото- и радиолюминесценция новых двойных ванадатов / А. В. Ищенко, 2010. - 24 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Петров В.Л. Методы и средства обнаружения делящихся материалов : учебное пособие / В. Л. Петров ; ред. Б. В. Шульгина, 2017. - 97 с. - Текст : электронный. Механизация и автоматизация погрузки угля в железнодорожные вагоны / А. В. Ищенко, Г. К. Кущанов, В. И. Лысков, М. К. Пузырьков, 1974. - 135 с. - Текст : непосредственный. Звонарев С.В. Функциональные и конструкционные наноматериалы : учебно-методическое пособие / С. В. Звонарев, 2018. - 131 с. - Текст : электронный. Методы анализа структуры и свойств материалов : практикум / М. Ю. Ларионов, А. В. Ищенко, Е. В. Петрова [и др.; научный редактор Б. В. Шульгин], 2019. - 123 с. - Текст : непосредственный. Аспекты проектирования усилительных устройств систем контроля : учебное пособие / А. С. Вохминцев, Е. А. Бунтов, Е. В. Моисейкин, Ю. Г. Устьянцев, 2019. - 111 с. - Текст : непосредственный. Физтех. Волны живой истории / Н. Н. Алексеенко, И. Н. Анцыгин, С. И. Бажуков [и др.; главный редактор В. Ю. Иванов], 2019. - 258, [3] с. - Текст : непосредственный. Люминесценция двойных ванадатов. Атлас спектров / Б. В. Шульгин [и др.]; под общ. ред. Б. В. Шульгина, Б. В. Слободина, 2010. - 217 с. - Текст : непосредственный. Низкоразмерные детекторные материалы для устройств радиационной физики / А. В. Ищенко [и др.]; под общ. ред. Б. В. Шульгина, 2014. - 183 с. - Текст : непосредственный. Зацепин Д.А. Ионная модификация функциональных материалов : учеб. пособие / Д. А. Зацепин, И. А. Вайнштейн, С. О. Чолах, 2014. - 104 с. - Текст : непосредственный. Ищенко А.В. Исследование микроструктуры материалов катодов, анодов и электролитов твердооксидных топливных элементов методом просвечивающей электронной микроскопии : автореф. дис. .. канд. хим. наук: 02.00.04 / А. В. Ищенко, 2017. - 19 с. - Текст : непосредственный. К вопросу о долговечности реакторных графитов / Е. И. Жмуриков [и др.], 2009. - 19 с. - Текст : непосредственный. Ищенко А.В. Разработка и коллоидно-химические свойства гидрофобизирующих эмульсий полисилоксана : 02.00.11 - Коллоидная химия: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / А. В. Ищенко, 2019. - 21 с. - Текст : непосредственный. Ищенко А.В. Методические основы реконструкций городской застройки в зонах оползневой опасности (на примере г. Ростова-на-Дону) : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.23.22 / А. В. Ищенко, 2013. - 19 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Петров В.Л. Методы и средства обнаружения делящихся материалов : учебное пособие / В. Л. Петров ; ред. Б. В. Шульгина, 2017. - 97 с. - Текст : электронный. Огородников, Игорь Николаевич. Введение в обратные задачи физической диагностики. Модельные расчеты в Матлаб : учебное пособие / И. Н. Огородников ; ред. А. Н. Кислова, 2017. - 126 с. - Текст : электронный. Слесарев А.И. Аспекты проектирования электронных схем на основе микроконтроллеров : учебное пособие / А. И. Слесарев, Е. В. Моисейкин, Ю. Г. Устьянцев ; ред. И. И. Мильман, 2018. - 135, [1] с. - Текст : электронный. Звонарев С.В. Функциональные и конструкционные наноматериалы : учебно-методическое пособие / С. В. Звонарев, 2018. - 131 с. - Текст : электронный. Пунанов И.Ф. Высоковольтный наносекундный пробой конденсированных сред : учебное пособие / И. Ф. Пунанов, И. С. Жидков, С. О. Чолах, 2018. - 115 с. - Текст : электронный. Методы анализа структуры и свойств материалов : практикум / М. Ю. Ларионов, А. В. Ищенко, Е. В. Петрова [и др.; научный редактор Б. В. Шульгин], 2019. - 123 с. - Текст : непосредственный. Экологические основы охраны водных ресурсов : учебное пособие / А. Ф. Никифоров, А. С. Кутергин, В. С. Семенищев, С. В. Никифоров, 2019. - 191 с. - Текст : непосредственный. Петров В.Л. Методы и средства обнаружения делящихся материалов : лабораторный практикум / В. Л. Петров, 2019. - 95 с. - Текст : непосредственный. Аспекты проектирования усилительных устройств систем контроля : учебное пособие / А. С. Вохминцев, Е. А. Бунтов, Е. В. Моисейкин, Ю. Г. Устьянцев, 2019. - 111 с. - Текст : непосредственный. Жидков И.С. Электрофизические методы обработки материалов : учебное пособие / И. С. Жидков, А. И. Кухаренко, С. О. Чолах, 2019. - 193 с. - Текст : непосредственный. Баранова А.А. Радиационная биофизика : лабораторный практикум / А. А. Баранова, 2018. - 100 с. - Текст : непосредственный. Денисова Э.И. Прикладное материаловедение: металлы и сплавы : учебное пособие / Э. И. Денисова, В. В. Карташов, В. Н. Рычков, 2018. - 215 с. - Текст : непосредственный. Моисейкин Е.В. Микроконтроллеры семейства MCS-51. Теория и практика : учебно-методическое пособие / Е. В. Моисейкин, 2017. - 143 с. - Текст : непосредственный. Звонарев С.В. Основы математического моделирования : учебное пособие / С. В. Звонарев, 2019. - 111 с. - Текст : непосредственный. Кутергин А.С. Прикладная экология. Оценка антропогенных воздействий на окружающую среду : учебно-методическое пособие / А. С. Кутергин, А. Ф. Никифоров, 2019. - 134 с. - Текст : непосредственный. Половов И.Б. Ядерно-химическая технология тория : учебное пособие / И. Б. Половов, А. В. Абрамов, Р. В. Камалов, 2019. - 141 с. - Текст : непосредственный. Огородников, Игорь Николаевич. Радиационные воздействия излучений на материалы электронной техники. Оксид бериллия : учебное пособие / И. Н. Огородников, В. Ю. Иванов, 2019. - 319 с. - Текст : непосредственный. Школа, Николай Федорович. Схемотехника аналоговых устройств : лабораторный практикум / Н. Ф. Школа, 2020. - 191 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Сурнев, Виктор Борисович. Высшая математика для физиков. Линейная алгебра : учебное пособие / В. Б. Сурнев, 2020. - 436 с. - Текст (визуальный) : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. I, 2007. - XX, 565 p. - Текст : непосредственный. Scanning probe microscopy. Electrical and e;ectromechanical phenomena at the nanoscale / ed. S. Kalinin, A. Gruverman. Vol. 2, 2007. - XX, p. 561-980. - Текст : непосредственный. Бахтизин Р.З. Физические основы сканирующей зондовой микроскопии / Р. З. Бахтизин, Р. Р. Галлямов, 2004. - 82 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Хокс П. Электронная оптика и электронная микроскопия / П. Хокс ; Пер.: И. Ф. Анаскин, А. М. Розенфельд ; Ред. И. Г. Стоянова, 1974. - 319 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Фадеев А.В. Ближнеполевая СВЧ - микроскопия и ее использование для определения характеристик элементов твердотельной СВЧ электроники / А. В. Фадеев, 2014. - 18 с. - Текст : непосредственный. Фролов А.П. Структуры с фотонной запрещенной зоной и их использование в ближнеполевой СВЧ-микроскопии / А. П. Фролов, 2014. - 20 с. - Текст : непосредственный. Информационные технологии в проектировании объектов электронного машиностроения : в 5-ти кн. Кн. 4 : Информационная технология в проектировании сканеров зондовых микроскопов, 2011. - 255 с. - Текст : непосредственный. Черкун А.П. Физические аспекты сканирующего фотоэмиссионного микроскопа на основе зонда-капилляра / А. П. Черкун, 2016. - 24 с. - Текст : непосредственный. Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽