• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Попков, К. А. Нижние оценки длин единичных тестов для схем из функциональных элементов / К. А. Попков. - М. : ИПМ им. М. В. Келдыша РАН, 2016. - 20 с. - (Препринт / Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша (Москва) ; 139 за 2016 г.). - Библиогр.: с. 19-20 (18 назв.). - 59 экз. - ISSN 2071-2898. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    50.43681.5.04(04)

    Рубрики:
    Автоматические системы -- Схемы

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/16400/139 за 2016 г.)

    Шифр в сводном ЭК: 592e016193ed44fac2c915107eb764ce



    Заказ фрагмента документа ₽