Полное описание
Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt. - Dordrecht [etc.] : Kluwer, 1995. - XIII,644 p. p. : ill. - (NATO advanced study institutes series. Ser.E, Applied sciences ; vol.286). - ISBN 0-7923-3406-X. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 29.35.43 537.533.35(063)
Рубрики: Микроскопия -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа: Guntherodt, H.-J.\ed.\
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/9632/286)
Шифр в сводном ЭК: 914b0e51444e054c7c0d7e0bae45da15
Flash reaction processes : материалы временных коллективов / Ed. T. W. Davies, 1995. - VIII,375 p. p. - Текст : непосредственный. Application of particle and laser beams in materials technology : материалы временных коллективов / Ed. P. Misaelides, 1995. - XI,678 p. p. - Текст : непосредственный. Science and technology of electroceramic thin films : материалы временных коллективов / Ed.: O. Auciello, R. Waser, 1995. - XVI,456 p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Mobile particulate systems : материалы временных коллективов / Ed.: E. Guazzelli, L. Oger, 1995. - XVI,390 p. p. - Текст : непосредственный. Low dimensional structures prepared by epitaxial growth or regrowth on patterned substrates : материалы временных коллективов / Ed. K. Eberl, 1995. - XI,386 p. p. - Текст : непосредственный. Heat transfer enhancement of heat exchangers : материалы временных коллективов / Ed. S. Kakac, 1999. - X, 676 p. 676 p. - Текст : непосредственный. Underground storage of natural gas:theory and practice : материалы временных коллективов / Ed. M. R. Tek, 1988. - XII,458 p. p. - Текст : непосредственный. Physics and materials science of high temperature superconductors,II : материалы временных коллективов / Ed. R. Kossowsky, 1992. - XCI,815 p. p. - Текст : непосредственный. Crucial issues in semiconductor materials and processing technologies : материалы временных коллективов / Ed. S. Coffa, 1992. - XIX,538 p. p. - Текст : непосредственный. interfacial interactions in polymeric composites : сборник научных трудов / Ed.by G. Akovali, 1993. - 455 p. - Текст : непосредственный. Multicomponent and multilayered thin films for advanced microtechnologies: techniques, fundamentals and devices : сборник научных трудов / Ed.: O. Auciello, J. Engemann, 1993. - 633 p. - Текст : непосредственный. Phonons in semiconductor nanostructures : сборник научных трудов / Ed. J. P. Leburton, 1993. - 509 p. - Текст : непосредственный. Instrumentation for combustion and flow in engines : сборник научных трудов / Ed. D. F.G. Durao, 1989. - VIII,395 p. p. - Текст : непосредственный. Structure-property relationships in surface-modified ceramics : материалы временных коллективов / Ed. C. J. McHargue, 1989. - X, 522 p. 522 p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Mechanical properties and deformation behavior of materials having ultra-fine microstructures : материалы временных коллективов / Ed. M. Nastasi, 1993. - XIV,624 p. p. - Текст : непосредственный. behavior of systems in the space environment : Proc.of the NATO advanced study inst.on the behavior of systems in the space environment,July 7-19 1991,Pitlochry,Scotland / ed. R. N. DeWitt, 1993. - XII,962 p. p. - Текст : непосредственный. Fundamentals and standards in hardware description lanquages : материалы временных коллективов / Ed. J. P. Mermet, 1993. - XII,466 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный. Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный. Torok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный. Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный. Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный. Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный. Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный. Сканирующие зондовые микроскопы : учебное пособие / С. Б. Нестеров, Б. А. Логинов, О. С. Зилова, Н. Р. Сабирзянов, 2007. - 199 с. - Текст : непосредственный. Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг.Исследование лазерного формирования комбинированных нанозондов : специальность 05.27.03 "Квантовая электроника" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Зыонг Ван Зунг Зыонг Ти Зунг, 2007. - 19 с. - Текст : непосредственный. Microscopy Research and Technique. - Журнал выходит с 1984г. r=on-line. - Текст : электронный. Стабилизатор луча 35-BST. - 13 c. - Текст : непосредственный. Чукланов А.П. Исследование химически модифицированной поверхности кремния, нанокатализаторов и оптических структур методами сканирующей зондовой микроскопии : специальность 01.04.17 "Xимическая физика, горение и взрыв, физика экстремальных состояний" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. П. Чукланов, 2007. - 24 с. - Текст : непосредственный. Lemke H. Entwicklung von Sonden fur spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie / H. Lemke, 1990. - 77,A10 S. S. - Текст : непосредственный. Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops / J. Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : специальность 05.11.07 "Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы аналитической электронной микроскопии / , Д. Б. Вильямс ; Ред. Д. Д. Грен ; пер. М. П. Усиков, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный. Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный. Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy and related methods : материалы временных коллективов / Ed. R. J. Behm, 1990. - X,525 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : РЭМ'99, июнь 1999 г.Тез. докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (11 ; 1999) , 1999. - 145 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 1, 1998. - 653,XII p. p. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 2, 1998. - 661-1288,XII p. p. - Текст : непосредственный. XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ-2011 : 30 мая - 2 июня 2011 г.: тезисы докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (17 ; 2011 ; Черноголовка) , 2011. - 279 с. - Текст : непосредственный. Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный. XVII Российская конференция по электронной микроскопии : ЭМ'98, 15-18 июня 1998 г.Тез.докл. / Российская конф. по электронной микроскопии (17 ; 1998 ; Черноголовка) , 1998. - 325 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
