• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Панин, Г. Н. Исследование электрически активных дефектов в кристаллах Cd Hg Te методами растровой электронной микроскопии : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / Г. Н. Панин. - Черноголовка, 1994. - 18 с. - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Рос.АН,Ин-т пробл.технологии микроэлектроники и особочистых материалов. Библиогр.: с.16-18(20 назв.)

    ГРНТИ УДК
    29.19.31537.311.322:548.4(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР95-2323)

    Шифр в сводном ЭК: 62cf9e778ac39f2497c21b6ea52bda6b



    Заказ фрагмента документа ₽