• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Китайский В.Е.
    Основы патентной экспертизы : учебник / В.Е. Китайский. - М. : [б. и.], 2004 - . - В надзаг.: Рос. гос. ин-т интеллектуал. собственности. - Текст : непосредственный.
    Ч. 1 : Экспертиза изобретений и полезных моделей. - М. : [б. и.], 2004. - 165 с. - Библиогр.: с. 162-163. - 140 экз. - ISBN 5-89508-021-9

    ГРНТИ УДК
    10.35347.77.028.4

    Рубрики:
    Патентное дело

    Кл.слова (ненормированные): ПАТЕНТНОЕ ДЕЛОЭкз-ры полностью e8c0dcd9043b6eb71e095bbc2436ca76
    Нет сведений об экземплярах
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/61008/1)

    Шифр в сводном ЭК: e8c0dcd9043b6eb71e095bbc2436ca76



    Заказ фрагмента документа ₽