Полное описание
Застела, М. Ю. ISBN 5-89347-310-8. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 47.01.81 621.384.002:658.562
Рубрики: Электронные приборы -- Качество
Доп. точки доступа: Царев, С.М.
Ермолаев, Ю.П.
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-05/15364)
Шифр в сводном ЭК: f259e193a954c129dbbe6b2101c41012
Основы технологичности и конструктивности изделий радиоэлектроники : выставочные материалы / А. В. Алексеев, М. Ю. Застела, В. Л. Сафонов, Ш. М. Чабдаров, 2012. - 141 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Ильин А.Г. Элементы статистической теории точности в производстве радиоэлектронных средств / А. Г. Ильин, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 83 с. - Текст : непосредственный. Гильмутдинов А.Х. Модели оценки сопротивления пленочных контактов и резисторов с распределенными параметрами / А. Х. Гильмутдинов, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 75 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Застела Ю.М. Теория точности в проектировании радиоэлектронных средств / Ю. М. Застела, Г. И. Щербаков, Ю. П. Ермолаев, 2004. - 199 с. - Текст : непосредственный. Оценка показателей качества на этапах проектирования и производства электронных устройств в условиях применения высоких технологий / Ю. П. Ермолаев [и др.], 2006. - 96 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Функциональная подгонка выходных параметров электронных устройств с применением интегральных технологий : Учеб.пособие / Ю.П.Ермолаев,И.К.Саттаров, 2002. - 183 с. - Текст : непосредственный. Салихов А.Б. Система опознавания "Пароль". Разработка, предварительные натурные и государственные испытания новой техники : учеб. пособие / А. Б. Салихов, М. Ю. Застела, 2015. - 51 с. - Текст : непосредственный. Болознев В.В. Синтезаторы частот в системах телекоммуникаций : монография / В. В. Болознев, М. Ю. Застела, 2015. - 136 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Экономические и технические показатели качества электронных средств : монография / М. Ю. Застела, В. В. Болознев, Ш. М. Чабдаров, 2015. - 282 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Основы радиоэлектроники и связи : учеб. пособие / М. Ю. Застела, 2008. - 171 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Модель возникновения, построения и применения корреляционных связей между погрешностями совместно обрабатываемых пассивных элементов микросхем : Учеб. пособие по направлению "Проектирование и технология электрон. средств" (N 551100) и спец. "Проектирование и технология радиоэлектрон. средств" (N 6543) / Ю.П.Ермолаев,И.К.Саттаров, 2000. - 98 с. - Текст : непосредственный. Пашин Д.М. Анализ вариантов технических и технологических решений электронных устройств при обеспечении их конкурентоспособности / Д. М. Пашин, Р. Г. Пулялин, Ю. П. Ермолаев, 2006. - 104 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Диагностический комплекс для пространственно-временного анализа энергии и тока импульсных релятивистских пучков, 1991. - 11 с. - Текст : непосредственный. Тарасов И.А. Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / И. А. Тарасов, 2014. - 19 с. - Текст : непосредственный. Мишура Т.П. Метрология, стандартизация и сертификация в радиоприборостроении : учеб.-метод. пособие : в 2 ч. Ч. 1 : Метрология, 2012. - 123 с. - Текст : непосредственный. Малинский В.Д. Испытания на воздействие повышенных температур и влажности окружающей среды / В. Д. Малинский, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный. Балайшис П.А. Динамика качества радиоэлектронных устройств : монография / П. А. Балайшис, Д. Ю. Эйдукас, 1991. - 182 с. - Текст : непосредственный. Донец С.А. Разработка моделей и алгоритмов оценки конкурентоспособности радиоэлектронных средств на начальных этапах проектирования : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. А. Донец, 2004. - 17 с. - Текст : непосредственный. Литвинов Б.Я. Передача размера единицы электрического сопротивления и контроль изделий электронной техники / Б. Я. Литвинов, 2007. - 153 с. - Текст : непосредственный. Лопин А.В. Метод бесконтактной диагностики радиоэлектронных модулей на основе анализа их тепловых образов : специальность 05.12.04 "Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения " : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / А. В. Лопин, 2014. - 17 с. - Текст : непосредственный. Методы и средства обеспечения качества изделий в приборо- и радиоаппаратостроение : сборник научных трудов / Московский авиационный ин-т им. С. Орджоникидзе, 1991. - 86 с. - Текст : непосредственный. Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный. Тюлевин С.В. Экспертные оценки в управлении качеством электронных средств : выставочные материалы / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, 2015. - 118 с. - Текст : непосредственный. Ермолаев Ю.П. Конструкторско-технологические возможности повышения качества пленочных элементов : выставочные материалы / Ю. П. Ермолаев, И. К. Саттаров, 2001. - 147 с. - Текст : непосредственный. Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Методы осуществления статистического контроля и анализа качества электронных средств / Л. И. Пономарев, В. В. Жаднов, А. А. Иофин, А. А. Артюхов, 2005. - 71 с. - Текст : непосредственный. Братов В.А. Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем / В. А. Братов, 1998. - 97 с. - Текст : непосредственный. Дрейзин В.Э. Управление качеством электронных средств : учебное пособие / В. Э. Дрейзин, А. В. Кочура, 2009. - 323 с. - Текст : непосредственный. Аристов О.В. Основы стандартизации и контроль качества в радиоэлектронике : выставочные материалы / О. В. Аристов, В. И. Шебанов, 1974. - 212 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Показать все результаты Застела М.Ю. Оценка значимости показателей качества электронных средств потребителями и производителями электронных изделий в рыночных условиях / М. Ю. Застела, С. М. Царев, Ю. П. Ермолаев, 2005. - 99 с. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Годжелло А.Г. Контрольные карты : Учеб. пособие по курсу "Контроль качества" / А.Г.Годжелло;Под ред. В.П.Соколова, 1997. - 48 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1436) : Специализированные средства функционального контроля : По данным отеч.и зарубеж.печати 1977-1988 г.г. / В.Н.Литвак,Е.Е.Михайлов,А.А.Топтун, 1989. - 64 с. - Текст : непосредственный. Управление качеством электронных средств : Учеб.для вузов по направлению "Проектирование и технология электрон.аппаратуры" и спец."Проектирование и технология радиоэлектрон.средств","Конструирование и технология электрон.-вычислит.средств" / О.П.Глудкин,А.И.Гуров,А.И.Коробов и др.;Под ред.О.П.Глудкина, 1994. - 414 c. - Текст : непосредственный. Шухат Б.А. Локализация неисправных подсхем в электронных устройствах аналогового типа : втореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05;05.09.05 / Б. А. Шухат, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный. Волков, В. А. Производство перспективных ЭВС : Учеб.пособие. Ч. 1 : Системный подход к обеспечению качества аппаратуры конструктивно-технологическими средствами, 1998. - 170 с. - Текст : непосредственный. Оценка показателей качества на этапах проектирования и производства электронных устройств в условиях применения высоких технологий / Ю. П. Ермолаев [и др.], 2006. - 96 с. - Текст : непосредственный. Муромцев, Д. Ю. Управление качеством электронных средств : учеб. пособие. Ч. 1, 2005. - 79 с. - Текст : непосредственный. Абомелик Т.П. Управление качеством электронной аппаратуры : Учеб.пособие для студентов направления 55.11.00 "Проектирование и технология электрон.аппаратуры" / Т.П.Абомелик;Под ред.Л.И.Волгина, 1997. - 332 с. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 5(1398) : Статистический анализ технологических процессов на основе обработки результатов тестового контроля / С.А.Еремин,Д.Б.Десятов,В.В.Сысоев, 1988. - 54 с. - Текст : непосредственный. Муромцев, Д. Ю. Управление качеством электронных средств : учеб. пособие. Ч. 2, 2007. - 96 с. - Текст : непосредственный. Власенко В.А. Микропроцессорные системы неразрушающего контроля качества изделий электронной техники / В.А.Власенко,О.И.Шкодин, 1990. - 144 c. - Текст : непосредственный. Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 6(1682) : Методы рентгеновского микроанализа тонких пленок : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1960-1991 гг. / А.В.Баскаков, 1992. - 68 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
