• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Migration and interaction of point defects at room temperature in crystalline silicon / V.Privitera,S.Coffa,F.Priolo,E.Rimini. - Bologna : [s. n.], 1998. - 52 p. : ill. - (La rivista del nuovo cimento. Ser.3-4, ISSN 0393-697X ; vol.21,N 8). - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:с.50-52

    ГРНТИ УДК
    29.19.11546.28-162:548.4

    Рубрики:
    Кремний -- Кристаллы -- Дефекты

    Кл.слова (ненормированные): КРЕМНИЙ
    Доп. точки доступа:
    Privitera, V.
    Coffa, S.
    Priolo, F.
    Rimini, E.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/12165/21,N 8)

    Шифр в сводном ЭК: eaf9589a1e6ac1e09bd00e14fbaf2c6f



    Заказ фрагмента документа ₽