Полное описание
> Migration and interaction of point defects at room temperature in crystalline silicon / V.Privitera,S.Coffa,F.Priolo,E.Rimini. - Bologna : [s. n.], 1998. - 52 p. : ill. - (La rivista del nuovo cimento. Ser.3-4, ISSN 0393-697X ; vol.21,N 8). - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.50-52
ГРНТИ | УДК | |
29.19.11 | 546.28-162:548.4 |
Рубрики:
Кремний -- Кристаллы -- Дефекты
Кл.слова (ненормированные): КРЕМНИЙ
Доп. точки доступа:
Privitera, V.
Coffa, S.
Priolo, F.
Rimini, E.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/12165/21,N 8)>
Шифр в сводном ЭК: eaf9589a1e6ac1e09bd00e14fbaf2c6f
Заказ фрагмента документа ₽