Полное описание

Drits, V. A. X-Ray diffraction by disordered lamellar structures:theory and applications to microdivided silicates and carbons / V. A. Drits, C. Tchoubar. - Berlin [etc.] : Springer , 1990. - XVII,371 p. p. : ill. - ISBN 3-540-51222-5. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце статей.Указ.в конце книги

ГРНТИ	УДК
38.35.21	549.6:539.2
61.31.51	546.29.03:539.2

Рубрики:
Силикаты -- Структура
Углерод -- Структура

Кл.слова (ненормированные): СИЛИКАТ -- УГЛЕРОД -- СИЛИКАТ -- УГЛЕРОД
Доп. точки доступа:
Tchoubar, C.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/23151)

Шифр в сводном ЭК: e76c26436fc5161436c172b491b04a45

Заказать издание
Заказ фрагмента документа