Полное описание

Журнал
Microelectronics Reliability. - Amsterdam : Elsevier Science Publishers, 1962 - . - Выходит ежемесячно. - ISSN 0026-2714. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ + 47.13

Аннотация: Статьи, обзоры и сообщения по результатам новейших исследований надежности микроэлектронных устройств, схем и систем: физика и анализ, оценка и прогнозирование, математическое и имитационное моделирование, методы и обеспечение надежности, технология микроэлектроники (проектирование, изготовление, компоновка и тестирование); промышленные новости и обновленные сведения. Обзоры новой литературы, письма в редакцию, календарь предстоящих конференций. Специальные номера посвящены материалам важных международных конференций или значительным и актуальным темам.

publisher's website

journal link

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): V1611)

Записей номеров не найдено