Полное описание

Нейтронографическое исследование влияния электрического поля на кристаллы SrxBa1-xNb2O6(x=0,70; 0,75) / Ф.Прокерт,А.М.Балагуров,Б.Н.Савенко,Д.Сангаа. - Дубна : [б. и.], 1990. - 13 с. : ил. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; 14-90-239). - 240 экз. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 12 (13 назв.)

ГРНТИ	УДК
29.19.35	537.226.4(04)

Рубрики:
Сегнетоэлектрики -- Нейтронография

Кл.слова (ненормированные): НЕЙТРОНОГРАФИЯ -- СЕГНЕТОЛЕКТРИКИ
Доп. точки доступа:
Прокерт, Ф.
Балагуров, А.М.
Савенко, Б.Н.
Сангаа, Д.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/14-90-239)

Шифр в сводном ЭК: d7d49d5d92c8c2bc8a411de8aa71ec30

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽