Полное описание

Egerton, R. F. Physical principles of electron microscopy. An introduction to TEM, SEM, and AEM / R. F. Egerton. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 2005. - XII, 202 p. : ill. - Библиогр.: с. 195-196. Указ.: с. 197-202. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27531)

Шифр в сводном ЭК: c996e57ee0109312b5dd49519da2a3eb

Заказать издание
Заказ фрагмента документа